高速トランシーバーATE
ATE8104/ATE8108
トランシーバーテストオールインワンシステム
ATEオールインワンテストシステムは、光モジュールの様々なテストケースを考慮した上で、機能要件に対するニーズの割合に応じて各サブモジュールを統合しました。ユーザーは実際のテスト要件に応じて設定を最適化し、柔軟に組み合わせることができ、トランシーバーテストメーターの利用率を向上させ、テストのコストを効果的に削減できます。
統合されたソフトウェアは、トランシーバーテストにおける様々なパラメータをまとめています。ユーザーは積み木を積むように速やかにテストシステムを構築し、新製品の量産導入を早めることができます。
システム全体はマルチチャンネル並列テストに対応し、ソフトウェアとハードウェアの組み合わせで、機器とソフトウェアの機能を十分に発揮させ、製品一つ一つのテスト効率を大幅に向上させることができます。
特徴
統合されたプラグイン型光学計測器
各機能モジュールはプラグインモジュールに統合されることで、ユーザーがハードウェアの構成を柔軟に最適化することができます
ソフトウェアのプラットフォーム化
ソフトウェアは高度に統合されており、ソフトウェアの各サブ機能モジュールを自由に呼び出したり、組み合わせたりすることが可能
複数チャンネルの並列テスト
チャンネルの数を増やし、並列でテストさせることにより、テスト効率を大幅に向上させることが可能
統合されたTEC 温度制御システム
モジュールの-40 ℃~90 ℃の温度サイクル試験に対応機能と利点
プラグイン型光学計測器
光パワーメータ／光スイッチ／光減衰器／光CDRといった常用光学計測器を統合し、MUX／DEMUX／Splitterといった常用受動部品を統合することで、柔軟に設定可能
統合温度サイクル試験システム
TECベースの温度制御システム
プラットフォーム化のソフトウェアシステム
サブ機能のモジュール化を実現
ソフトウェアによるレポートの自動作成
合格率分析
ドキュメントのダウンロード
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