LDテスター
CT6206
ハイパワーLDテストシステム
CT6206は、BI6206ハイパワーLDバーンインシステムと治具プレートを共有し、治具の自動ローディング/アンローディングが可能で、バッチテスト、並列テストに対応しています。ハイパワー半導体LDの量産に非常に効率的なプラットフォームを提供します。
特徴
互換性がよい
BI6206ハイパワーレーザーバーンインシステムとテストボードを共有
テスト効率が高い
一括入出力に対応
繰り返し性がよい
光学測定の繰り返し性が高い
工業上の低温に対応
-40℃低温でのテストを選択できます。機能と利点
システムの機能と利点
4ステーション連続テストでテスト効率向上| システムパラメータ | チップタイプ | すべてのハイパワーCoC/CoS LD |
| 治具タイプ | BI6206バーンインシステム治具と互換可能 | |
| 上下治具 | 自動上下治具 | |
| 治具ID掃引識別 | 自動治具Barcode掃引識別 | |
| 並列テスト | CoC治具の両側で並列テストを実施可能 | |
| 標準試料管理 | 標準仕様サンプルの管理値はソフトウェアにて調整、管理。標準仕様サンプルは指定計測時間（指定可能）オーバーした場合、システムよりワーニングし、フェールモードへ遷移。 | |
| テスターの制御 | ソフトウェアはテストステーションの管理機能に対応し、同じ治具がバーンイン前後で異なるテストステーションでテストを行った場合、ソフトウェアは自動的に警告を発します。 | |
| テスト設定管理 | ソフトウェアはテストメーター、テストアルゴリズム、テストシーケンス、テスト結果判定を含むテスト設定の管理に対応します。 | |
| テストデータ | ユーザーが必要とするすべてのテストデータに対応し、MES関連のニーズに対応します。 | |
| 電気仕様 | SMUタイプ | 標準高精度ソースメーター |
| 直流電流 | 3A | |
| I/V ソース解像度 |
500nA/100mV |
|
| I/V 測定解像度 |
500nA/100mV |
|
| 電圧範囲 | 70V | |
| パルス電流 | 10A | |
| EOS | EOSなし（いかなる通常の動作と使用条件においても) | |
| 光学仕様 | 光パワー測定検出器タイプ | InGaAs |
| 光パワー波長範囲 | 1200-1700nm (700~1700nmに拡張可能) | |
| 光パワー測定範囲 | 5mW-5000W | |
| 光パワー測定精度 | <0.2dB | |
| スペクトル測定範囲 | 横河AQ6360またはその他の分光器を搭載 | |
| スペクトル測定精度 | ||
| 光パワーカップリング効率 | カップリングパワー>-15dBm | |
| 温度制御仕様 | 温度制御方法 | TEC+水冷システム |
| 温度制御エリア | 4つの独立した温度制御エリア | |
| 温度範囲 | 25-100℃ | |
| 温度変化速度(昇温/降温) | 8℃/分 | |
| 温度分解能 | 0.1℃ | |
| 温度精度 | <±0.5℃ | |
| 温度均一性 | <±0.5℃ | |
| 温度安定性 | <±0.1℃ | |
| テストパラメータ | Ith繰り返し性 | ±1% |
| パワーの繰り返し性 | ±2% | |
| SE 繰り返し性 | ±2% | |
| VF 繰り返し性 | ±3% | |
| 波長の繰り返し性 | <±0.1nm | |
| SMSRの繰り返し性 | <2.5dB |
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