waferレベル信頼性評価システム
PLR0010
パッケージレベル信頼性テスト設備 PLR0010
PLR0010パッケージレベル信頼性テスト設備は、JEDEC信頼性テスト規格に基づいて設計・開発された信頼性テスト設備であり、主にTDDB/HCI/NBTI/EMなどの機能テストに使用されます。テストシステムの温度は最大250℃まで対応可能で、AIモデルを通じてデータを分析し、製品各工程における欠陥を解析できます。システムの各チャンネルは独立した過電流保護機能を備えており、測定対象デバイスの安全性を確保すると同時に、顧客のEAPシステムとドッキングし、生産データの管理を実現することで、ユーザーがより細かい性能分析と品質管理を行えるようにしています。
特徴
複数のテストモード
TDDB/HCI/NBTI/EMテストが実行可能で、JEDEC信頼性テスト規格に対応
Micro Ovenアーキテクチャを採用
最大4つの温度帯を作り、各Ovenは独立して温度を制御でき、最大温度は250℃に達します
大量のテストの並列処理が可能
最大960DUTsに対応
高圧テストに対応
電源は最大3500Vまで対応可能
On-the-flyに対応
On-the-flyテストとデータ分析に対応
自社開発のソフトウェアテストプラットフォーム
聯訊PLRソフトウェアテストプラットフォームを採用し、リアルタイムでテスト曲線を表示でき、データの出力形式はユーザーの要望に応じてカスタマイズ可能
自社開発SMU
聯訊高精度SMUソースメーターを使用|
パラメータ |
指標 |
|
工作温度 |
15℃～55℃ |
|
存储温度 |
-10℃～50℃ |
|
作業湿度
|
40～60% |
|
保存湿度 |
<90%（無凝結） |
|
作業高度 |
0～2000m |
|
供電功率 |
AC380V 3P+N+PE, 19.1A/50/60Hz &12KW |
|
電磁両立性
|
EU EMC 基準を満たす
|
|
安全 |
EUの安全基準を満たす
|
|
認証
|
CEまたはSemi S2の認証に適合
|
|
ソフトウェアシステム
|
Linux |
|
ソフトウェア言語環境
|
C#/C++ |
|
ソフトウェア機能 |
テストタスクの編集と設定、データ表示とデータ分析、MESインターフェース、ユーザー権限管理、キャリブレーションメンテナンス、故障診断 |
その他おすすめ
情報通信の基盤である光通信ネットワークはビッグデータ、クラウドコンピューティング、5G通信など社会の幸せと技術の進化を支える重要な役割を果たしています。蘇州聯訊の光通信関連設備は光モジュールや光学機器など基盤製品の生産プロセス、検査プロセスに使用されるサンプリングオシロスコープ、BERメーター、波長測定計、分光器、流量計及び汎用光学計測機器などをラインナップし、マーケットにコミットしたトータルソリューションをご提供します。
Details
蘇州聯訊の高精度ソースメーターは優れた操作性を継承しながら、安定な電圧（DC/AC）、電流（DC/AC）の供給と高い測定精度を実現した電子負荷装置で、産業用、研究開発用として幅広く製品を展開してきました。
Details
LDのバーンインテストは、LDの信頼性を担保するための重要なテスト手法として産業用プロセスに広く活用されています。COC、COSまたはDIEのバーンインテストを通じて、LD生産プロセスによる欠陥を早期に発見し、後工程のLD故障、不良を防げます。LDスクリーニングによる廃却損失の低減、サイクルタイムの向上、工程内のムダを発見することでチップ生産の効率を大幅に向上させます。蘇州聯訊はDIEからCOCまで、高温から-40℃の低温まで、トータルソリューションを提供し、様々なお客様の要件に満足します。
Details
半導体のフロントエンドテストは主にウェハーの加工プロセスで実施されます。これにより、ウェハー製造プロセスの各工程の指標、閾値、パラメータ要件などは設計狙い値を満たしているかを確認し、良品率に影響を与える欠陥を早期に発見できます。
Detailsメールアド
サービスホ
サービスホ
氏名
メールアドレス
メールアドレスの認証コード
電話番号
パスワード
パスワードを確認
メールアドレス
メールアドレスの認証コード
新しいパスワード
パスワードを確認
プロトタイプの申し込み
