ソリューションズ-蘇州聯訊計器株式会社

2022年2月、蘇州聯訊 (Semight Instrument) はアイパターンテストシリーズ製品である53Gbaud PAM4/NRZクロックリカバリーユニットCR6256を発表し、400Gおよび800Gトランシーバーテストに新たな選択肢を提供しました。

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OLTモジュールにおけるバーストビットエラーレートテスターの利用

PONシステムでは、OLTはPOS (パッシブ光スプリッター) を介して複数のONU (光回線終端装置) に接続されています。PONシステムのコアとなるOLT光モジュールは、PON全体の動作に直接影響を与えます。

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通信ネットワーククライアント

光通信ネットワークと高速インターフェースレーザーダイオードチップ、光学デバイスと光送受信モジュールの研究開発と生産は、高性能なサンプリングオシロスコープを使用して正確な測定と検証を行わなければなりません。

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SiCウエハレベルの老化システムソリューション

SiC（炭化ケイ素）ウエハーレベルの老化試験の意義は、潜在的な故障メカニズムを事前に特定し排除することで、最終デバイスの信頼性と性能の安定性を向上させるとともに、故障率を低減し、アフターサービスコストを削減することにあります。

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コア技術を身につける　|　蘇州聯訊WATWaferアクセプタンステストシステムの概要

WATはウエハーがFab工場から出荷される前の最終テストプロセスです。WATテストは通常、Waferダイシングレーンに特別に設計されたテスト構造を用いて実施するテストです (図1)。これらのテスト構造の組み合わせとテスト結果の分析により、Wafer製造プロセスと工程中の偏差をモニタリングすることが可能です。

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