蘇州聯訊機器株式会社公式サイト-エラーコード計-オシロスコープ-SUM-CoC-半導体試験-CoCエージング試験

KGDハンドラー
汎用チップテストプラットフォーム

● レーザチップ
● パワーチップ
● メモリチップ
● 先進パッケージ

Products

製品センター

高速光通信テスト、光チップテスト、半導体テストの3つの分野のテスト機器と設備の開発に力を入れ、ハイエンドテストハードウェアとソフトウェアシステム全体のソリューションを提供する

光ネットワークテスト

光通信ネットワークは情報通信のインフラストラクチャとして、我が国のビッグデータ、クラウドコンピューティング、5 G通信などの市場の急速な発展に重要なベアラサポート作用を発揮し、通信機器の光通信計器の深さは光モジュール光デバイスなどのコア製品のテスト測定をカバーし、サンプリングオシロスコープ、エラーコード計、波長計、分光計、流量計及び汎用光測定計器などを含み、経済的で効率的な完全なソリューションを提供する。

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電気性能試験です

高精度ソーステーブルは電圧源、電流源、電圧計、電流計、電子負荷の機能を一身に集め、各種個別部品、光起電力、新エネルギー、電池などの業界の高精度試験測定に広く応用され、通信機器は高精度のデスクトップソーステーブル及び標準PXIeシャーシのカード挿入式PXIeソーステーブルモジュールを提供し、各種の異なる試験シーンの応用を十分に満たす。

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光チップ試験

レーザの劣化及び試験はレーザの信頼性を保障する重要な方法であり、COC又は裸dieの試験を通じて、レーザの生産過程におけるプロセス工程の欠陥によるレーザの早期故障を早期に選別する。通信機器は、裸のdieからCOCまで、高温から低温まで-40℃の完全なソリューションを提供します。通信機器のレーザーチップ老化試験案は市場で広く認められている。

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パワーチップテスト

半導体前道検査は主にウェハ加工プロセスに用いられ、目的は製造プロセスごとのウェハ製品の加工パラメータが設計の要求に達しているか、あるいは良率に影響する欠陥があるかどうかを検査することであり、半導体後道検査設備は主にウェハ加工後、パッケージ試験プロセス内に用いられ、目的はチップの性能が要求に合っているかどうかを検査し、電気性能の検査に属する。通信機器はウエハ老化や半導体パラメータ試験機などの集積ソリューションを提供し、海外企業の長期独占を打破し、国産半導体装置の輸入代替率を絶えず向上させている。

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Solution

ソリューション

データセンター

通信機器はレーザ光モジュールなどのワンストップ試験ソリューションを提供する

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テレコムネットワーク

OLTは光アクセスネットワークコアデバイスであり、その特有の突発受容モードはテストに対して極めて高い要求を提出した

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新エネルギー

自動車電子はすでに自動車制御システムの中で最も重要な支えとなり、自動車産業は知能化、ネットワーク化及び深電子化の方向に沿って発展する

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はんどうたい

半導体は電子製品の中核であり、情報産業の礎である

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シリコン光子

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メタ宇宙

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About us

会社概要

蘇州聯訊機器は2017年に設立され、光通信と半導体試験技術の研究に長年従事してきた高級専門家によって設立され、高速光通信試験、光チップ試験と半導体試験の3つの分野の試験機器と設備の開発に力を入れ、高速誤差計、ネットワーク試験器、広帯域サンプリングオシロスコープ、高精度波長計、分光計などのハイエンド試験ハードウェアとソフトウェアシステム全体のソリューションを提供している。汎用デジタルソーステーブルなどのハイエンド試験機器、および高速光電ハイブリッドATE、レーザチップエージング機、レーザチップ試験機、シリコン光ウエハ試験機、パワーチップ試験機、ウエハエージング機、半導体パラメータ試験機などのハイエンド試験装置。華南、華東、西南、米国、台湾、日本、タイなどに販売拠点を設けている...