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Waferアクセプタンステスト

WAT（Wafer Acceptance Test）は最高 48ピンをサポートし、柔軟に構成可能で、業界のプローブカード構造と互換性があります。すべてのタイプの汎用プローブステーション制御をサポートし、自社開発のアンダーp 級精度のソースメーターを搭載し、シリアルおよびパラレルの2つのテスト方式をサポートしています。
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