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Waferレベルバーンインテスター

ウェハーレベルバーンイン(Wafer Level Burn-In) テストは主に車載用SiCウェハーバーンインを指し、信頼性が低いSiCチップを選出し、パッケージング後の車載用SiCモジュールの使用中の信頼性を確保
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