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SiP Waferテスト

SiPは光子と電子を情報キャリヤとするシリコンベースのオプトエレクトロニクスの大規模集積技術であり、ICチップの性能を大幅に高めることができ、ビッグデータ、人工知能、モバイル通信など新興産業の基盤技術であり、ビッグデータセンター、5G、モノのインターネットなどの産業に広く使用することができます。
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