LDテスター
TO6200
工業用TO低温検査機
すべての5Gベアラネットワーク光トランシーバーモジュールは、-40℃~90℃ で正常に作動できることを確保する必要があるため、これらのモジュールに使用されるTO-CANデバイスには、新しい工業用の低温-40 ℃のテスト要件が提案されています。5Gベアラネットワークの大規模な商用化に伴い、このような新しいテスト要件はますます多くなっていますが、従来のTO-CANデバイステストシステムは常温と高温にしか対応できませんでした。これを解決するために、聯訊はTO6200工業用TO低温検査機TO-CANテストシステムをリリースしました。このシステムはこの新しい要件に対応し、320pcs TO-CANの量産テストを実施可能で、聯訊の高精度ソースメーターを使用することで、TO6200は非常に高いテスト繰り返し性を持っており、工業用のTO-CANデバイステストに最適となっています。
特徴
工業用の温度範囲
-40℃~90℃
繰り返し性がよい
Ith繰り返し性 高温<2%、常温<3%、低温<5%
ソフトウェア機能が充実
テスト結果の自動判定と分類が可能。
テスト効率が高い
各テスト治具は160pcs TO-CANに対応し、合計2つテスト治具のシリアルテストが可能です。機能と利点
治具ごとに異なる温度を同時に設定することが可能
内部の治具と構造
ソフトウェアの機能が充実で、操作は簡単
| パラメータタイプ | パラメータ名 | パラメータ仕様 | 検収方法 |
| システム機能 | 対応する治具タイプ | 聯訊10*16=160pcs TO治具 | 実際の操作により機能を検証 |
| テスト温度範囲 | -40℃~90℃ | 実際の操作により機能を検証 | |
| SNの一括入力 | SN製品の一括入力 | 実際の操作により機能を検証 | |
| LIVとスペクトルテスト | LIVとスペクトルテストと自動判定 | 実際のテスト結果により機能を検証 | |
| テストパラメータ、ログの保存 | テストの生データ、結果の計算、システム実行の詳細ログの保存 | 実際の操作により機能を検証 | |
| 電気的パラメータ | ソースメータータイプ | Semight 4象限標準高精度ソースメーター | KeithleyまたはKeysightの標準 ソースメーターを用いて、すべての電流源/電流計/電圧 源/電圧計の範囲、精度とクランプを測定する機能 |
| I/V ソース分解能 | 500nA/100mV | ||
| I/V 測定分解能 | 500nA/100mV | ||
| 電圧源/電圧計の範囲 | 10V | ||
| 電圧源/電圧計の精度 | +/-(10V/60V), 0.02%+0.01% F.S | ||
| 電流電圧のクランプ | 任意電流電圧ポイントのクランプ | ||
| 通常の動作条件でアンダーシュート | EOSなし | オシロスコープですべての操作状況下の 電流と電圧の変化状況をチェックします。要チェック の操作リスト詳細は7.5マニュアルに参照 |
|
| 通常の動作条件でオーバーシュート | EOSなし | ||
| 異常な動作条件でアンダーシュート | EOSなし | ||
| 異常な動作条件でオーバーシュート | EOSなし | ||
| 光パラメータ | 検出器タイプ | Ge | 実際の操作により機能を検証 |
| 光パワー測定の波長範囲 | 1000-1650nm | 実際の操作により機能を検証 | |
| 光パワー測定範囲 | 10uW-45mW | 実際の操作により機能を検証 | |
| 光パワー測定精度 | 0.2dB | 実際の操作により機能を検証 | |
| スペクトルテストの波長範囲 | 顧客が分光器を提供 | ||
| スペクトルテストの精度 | 顧客が分光器を提供 | ||
| 温度 | 温度制御の方法 | TEC + 冷水タンク | 実際の操作により機能を検証 |
| 温度範囲 | -40℃~90℃ | 実際の操作により機能を検証 | |
| 温度上昇の速度 | 25℃~85℃<12min | 実際の操作により機能を検証 | |
| 温度降下の速度 | 25 ℃~マイナス40 ℃<30min | 実際の操作により機能を検証 | |
| 温度均一性 (治具5ポイント間のレンジ) |
高温<±3℃ 低温<±2℃ |
治具の表面に5ポイント間の温度を測定し、温度が安定した後、5minのモニタリング時間内に、温度変動レンジ<±0.2℃ | |
| 温度確度 (標準温度計と比較) |
<1℃ | ||
| 温度安定性 | <0.4℃ | ||
| システム仕様 | Ith繰り返し性（高温） | <2% | G R&Rで繰り返し性を検証するとともに、テスト時間のデータを取得 |
| Ith繰り返し性（常温） | <3% | ||
| Ith繰り返し性（低温） | <5% | ||
| Se繰り返し性 | <2% | ||
| Power繰り返し性 | ±0.2mW | ||
| 波長の繰り返し性 | <+/-0.1nm | ||
| SMSR繰り返し性 | <±3dB | ||
| カップリングパワー | >-25dBm（Ith+30） | ||
| テスト効率 | 1回のLIVごとにスペクトルを1回追加する (501ポイント) 平均時間<6s、-40℃単一温度で22時間6k-7k回、 25℃/-40℃/85℃の三つの温度で22時間 3K回以上繰り返す（以上は参考用のデータで、顧客の実際のテスト条件によって変わることがあります。） |
||
| 機構 | ヘッドの移動範囲 | すべてのテストステーションをカバーし、Z軸>5mm | |
| 軸の移動精度 | X/Y軸<50um、Z軸<20um |
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