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パワー半導体KGDテスター

半導体のフロントエンドテストは主にウェハーの加工プロセスで実施されます。これにより、ウェハー製造プロセスの各工程の指標、閾値、パラメータ要件などは設計狙い値を満たしているかを確認し、良品率に影響を与える欠陥を早期に発見できます。
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