検索キーワードを入力してください!

Site Map

サイトマップ

Waferレベルバーンインテスター

AL3500A

全自動Waferローディング・アンローディングシステム


AL3500Aは、蘇州聯訊の高電圧WaferバーンインシステムWLR3500と組み合わせてローディング・アンローディング作業を行う付帯設備です。この設備は、Waferの位置合わせと治具の自動据付において、オペレータをサポートすることができます。

特徴

  • 対応製品

    4-6インチWafer自動Load/Unload
    製品の厚さ> 150 um
  • 数量

    Waferの数量≦25pcs
    治具の数量≦6 pcs
  • ローディング速度

    <5 min/pcs
  • プローブアライメントの精度

    ±25 um

機能と利点

  • システムアーキテクチャ

製品の特徴 パッケージング製品 4インチ、6インチのwafer
システムサイズ 1500 mm(W)×1800 mm(H)×1400 mm(D)
システムの消費電力 3 kW
技術仕様 Wafer数 ≤25 pcs
治具数 ≤6 pcs
ローディング速度 <5 min/pcs
プローブアライメントの精度 ±25 um

その他おすすめ

光ネットワークテスト関連製品
光ネットワークテスト関連製品

情報通信の基盤である光通信ネットワークはビッグデータ、クラウドコンピューティング、5G通信など社会の幸せと技術の進化を支える重要な役割を果たしています。蘇州聯訊の光通信関連設備は光モジュールや光学機器など基盤製品の生産プロセス、検査プロセスに使用されるサンプリングオシロスコープ、BERメーター、波長測定計、分光器、流量計及び汎用光学計測機器などをラインナップし、マーケットにコミットしたトータルソリューションをご提供します。

Details
電気特性計測関連設備
電気特性計測関連設備

蘇州聯訊の高精度ソースメーターは優れた操作性を継承しながら、安定な電圧(DC/AC)、電流(DC/AC)の供給と高い測定精度を実現した電子負荷装置で、産業用、研究開発用として幅広く製品を展開してきました。

Details
レーザーダイオードチップテスター
レーザーダイオードチップテスター

LDのバーンインテストは、LDの信頼性を担保するための重要なテスト手法として産業用プロセスに広く活用されています。COC、COSまたはDIEのバーンインテストを通じて、LD生産プロセスによる欠陥を早期に発見し、後工程のLD故障、不良を防げます。LDスクリーニングによる廃却損失の低減、サイクルタイムの向上、工程内のムダを発見することでチップ生産の効率を大幅に向上させます。蘇州聯訊はDIEからCOCまで、高温から-40℃の低温まで、トータルソリューションを提供し、様々なお客様の要件に満足します。

Details
パワー半導体KGDテスター
パワー半導体KGDテスター

半導体のフロントエンドテストは主にウェハーの加工プロセスで実施されます。これにより、ウェハー製造プロセスの各工程の指標、閾値、パラメータ要件などは設計狙い値を満たしているかを確認し、良品率に影響を与える欠陥を早期に発見できます。

Details
ログイン後 すぐダウンロードできます!

アカウント

パスワード

新規登録 今すぐダウンロード!

氏名

氏名を入力してください *

メールアドレス

メールアドレスを入力してください *

メールアドレスの認証コード

メールアドレスの認証コードを入力してください

電話番号

連絡先の電話番号を入力してください *

パスワード

ログインパスワードを入力してください *

パスワードを確認

ログインパスワードをもう一度入力してください *
パスワードを取り戻す

メールアドレス

メールアドレスを入力してください *

メールアドレスの認証コード

メールアドレスの認証コードを入力してください

新しいパスワード

ログインパスワードを入力してください *

パスワードを確認

ログインパスワードをもう一度入力してください *