汎用ビットエラーレートテスター
MBT5210
4x25G ビットエラーレートテスター
聯訊儀器 MBT5210 高性能4 × 25G ビットエラーレートテスターは、シングルまたはダブルチャンネルの構成に対応しています。レートは9.953~28.2 Gbpsなどの標準レートをカバーします。聯訊儀器 MBT5210 の高い信号品質: 高速立ち上がりエッジ、低い固有ジッターを有し、すべての産業規格PRBSの疑似ランダムコードシーケンスを生成する機能を持ち（27-1、29-1、215-1、223-1、231-1）、トリガー信号はハーフレートクロック(高速) & 分周トリガー出力 (低レート) に対応し、クロックリカバリーを搭載し、入力の極性の切り替えが可能で、高い繰り返し性と標準に適合するテスト結果を提供できます。USB制御インターフェイスにより外部API制御 (LabVIEW、C #) を呼び出すことで、MBT5210ビットエラーレートテスターを完全にコントロールできます。
特徴
マルチレート
9.953 ~ 28.2 Gbps プロトコル標準テストレートをカバー
効率的な並列テストを実現
4つのチャンネルのハードウェアはそれぞれ独立して、効率的な並列テストを実現
高性能
急速な立ち上がりエッジと低い固有ジッター
パターンが豊富
常用PRBSパターン、スクエアウェーブやカスタムパターン機能と利点
パターンジェネレーター
| データ出力 | |
| 出力タイプ | 差動/シングルエンド |
| 変調フォーマット | NRZ |
| データパターン | 27-1、29-1、215-1、223-1、231-1、スクエアウェーブ、ユーザーカスタムのパターン |
| データレート | 9.953~28.2 Gbps |
| 周波数精度 | ± 50 ppm |
| 出力幅 (差動) | 600~800 mVp-p |
| 立ち上がり時間(20 – 80%) | ＜16 ps |
| 立ち下がり時間(20 - 80%) | ＜16 ps |
| ジッター |
＜515 fs |
| コネクタ | 2.92 mm female、50 Ω |
| 出力幅 | ＞300 mV |
| 出力タイプ | 差動、ACカップリング |
| コネクタ | 2.92 mm female、50 Ω |
| 入力タイプ | 差動 |
| シングルエンド | |
| 入力インピーダンス | 100 Ω |
| 入力幅 | 1000 mVp-p |
| 感度 | <40 mV |
| 端末 | ACカップリング |
| データパターン | 27-1、29-1、215-1、223-1、231-1 |
| データレート | 9.953~28.2 Gbps |
| 入力幅範囲 (差動) | 40~1000 mV |
| クロックモード | クロックリカバリーを搭載 |
| 同期タイプ | 自動同期 (レベル/位相) |
| コネクタ | 2.92 mm female、50 Ω |
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LDのバーンインテストは、LDの信頼性を確保するための重要なテスト手法として産業用プロセスに広く活用されています。COC、COSまたはDIEのバーンインテストを通じて、LD生産プロセスによる欠陥を早期に発見し、後工程でのLDの故障や不良を防止できます。LDスクリーニングによる廃却損失の低減、サイクルタイムの向上、工程内のムダを発見することでチップ生産の効率を大幅に向上させます。聯訊儀器はDIEからCOCまで、高温から-40℃の低温まで、トータルソリューションを提供し、多様なお客様の要件にお応えします。
Details
半導体のフロントエンドテストは主にウェハーの加工プロセスで実施されます。これにより、ウェハー製造プロセスの各工程の指標、閾値、パラメータ要件などは設計の目標値を満たしているかを確認し、良品率に影響を与える欠陥を早期に発見することができます。
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