画面に「System selftest failed」と表示された場合、通常はシステムの低レベル状態に異常が発生している可能性があります。

この場合、お客様ご自身で機器を分解したり、強制的な再起動を繰り返したりしないでください。 直接 Lianxun FAEチームにお問い合わせください。正常な動作を復旧するため、専門エンジニアによる現地でのファームウェアアップグレードを手配いたします。

TDECQが高くなる原因は測定リンク全体にわたる可能性があるため、以下の手順で各要因を順番に切り分けてください。

1、汚れとCDRの状態を確認

CDRの光ファイバー端面および光ポートに汚れや異物がないことを確認してください。正常に動作している別のCDRに交換し、同じ現象が発生するか確認してください。交換後にTDECQが正常値に戻った場合は、元のCDRに異常があると判断できます。別のCDRでも正常に動作しているにもかかわらずTDECQが高いままの場合は、入力元の信号自体に問題がないか確認してください。

2、クロック品質を確認

CDRで正しいデータレートが選択されていることを確認してください。データレートの設定が誤っていると、DCAに供給されるクロック信号の品質が低下し、TDECQに異常が生じる可能性があります。

3、物理接続を確認

TRIGポートに亀裂や破損がないことを確認してください。また、DCAとCDR間のRFケーブルに緩みがないことを確認してください。

4、別のCDRでクロスチェック

別のCDRを使用してクロスチェックを行い、それぞれが正常にロックできるか確認してください。これにより、問題がCDR本体に起因するものかを切り分けることができます。CDR本体の問題であることが確認された場合は、FAEチームにお問い合わせください。

クロックを正常にリカバリできない場合、主に入力信号の状態またはデータレートの不一致が原因として考えられます。

1、光入力パワーを確認

CDRに十分な光パワーが入力されていることを確認してください。

2、データレート設定を確認

CDRで正しいデータレートが選択されていることを確認してください。現在の設定は、画面の SymbolRate 欄で確認できます。データレートが正しく設定されていない場合、機器は正常にロックできません。

3、別のCDRでクロスチェック

別のCDRを使用してクロスチェックを行い、それぞれが正常にロックできるか確認してください。これにより、問題がCDR本体に起因するものかを切り分けることができます。CDR本体の問題であることが確認された場合は、FAEチームにお問い合わせください。

光パワーの異常は、主に光路の汚れ、設定の誤り、またはハードウェアの物理的な損傷によって発生します。以下の手順に従って順番に確認してください。

1、光ポートの汚れを確認

端面検査器（FC/PCコネクタ対応）を使用して、光ポート内部を確認してください。中央部の光伝送経路に汚れや異物が付着している場合は、必ず光コネクタ用クリーナーで清掃してください。汚れを除去せずに使用すると、信号伝送に影響を与え、測定結果に大きな誤差が生じる可能性があります。

2、波長設定を確認

LCD画面の波長設定が入力信号の波長と一致していることを確認してください。例えば、1310 nm の信号を測定する際に、誤って 850 nm に設定すると、光パワーの読み値に異常が生じます。

3、光アダプタの破損を確認

明るい場所で光アダプタを目視点検してください。内部のセラミックスリーブに亀裂や破損がある場合は、光アダプタを交換してください。

上記の項目に問題がないことを確認しても、機器の再起動後に症状が改善しない場合は、Lianxun FAE にお問い合わせください。FAEによる確認後、修理のため機器をご返送ください。

測定時は、入力光パワーを必ず安全範囲内に維持してください。2機種では損傷限界となる光パワーが異なるため、特に注意が必要です。

リニア光入力範囲（参考）

シングルモード（SM）：-12 dBm以上を推奨します。
マルチモード（MM）：-10 dBm以上を推奨します。
日常の測定では、信号品質を確保するため、-8 dBmを超える光入力パワーを推奨します。

CR6256 光パワー損傷限界

CR6256の損傷しきい値は +7 dBmです。

CR3302 光パワー損傷限界

CR3302へのピーク入射光パワーは、いかなる場合でも +5 dBmを超えてはなりません。

⚠ 過大入力厳禁

精密機器の損傷を防ぐため、以下の4つの手順を必ず実施してください。

1、接地対策

電源を投入する前に、機器が確実に接地されていることを確認してください。

2、 端面検査

光ファイバーを挿入する前に、必ず端面検査器を使用して、光ファイバー端面およびCDRの光入力端面を確認してください。両方の端面に汚れや異物がなく、完全に清浄な状態であることを確認してください。

3、静電気（ESD）対策

TRIGポートのケーブルを交換する際は、必ず機器の電源を切り、ESDリストストラップ（静電気防止用リストストラップ）を着用してください。 静電気放電によるTRIGポートの損傷を防止するためです。

4、コネクタの点検・清掃

TRIGケーブルを接続する際は、TRIGポートに破損がないことを確認してください。また、使用前に、アルコールを含ませたクリーニングスワブでRFコネクタを清掃することを推奨します。

以下の2つのケースに分けて確認してください。

ケース1：アイダイアグラムがまったく表示されない

① PC側のソフトウェアで、測定条件（SIRC、Wavelength、Pattern Length）が現在の測定データレートおよびパターン長とそれぞれ正しく対応していることを確認してください。

② DCAにクロック信号が正しく入力されていることを確認してください。

ケース2：1チャンネルのみアイダイアグラムが表示される

① Channel Setup 画面で、他のチャンネルも正しく設定されていることを確認してください。誤って CH1 のみが設定されていないか確認してください。

② PC側ソフトウェア画面の左下にあるチャンネルタブ（1A / 1B / 1C / 1D）で、必要なチャンネルが選択されていることを確認してください。

TDECQの測定値にずれがある場合は、複数の要因が考えられます。以下の4点を確認してください。

1、暗電流

ERの測定値にずれがある場合と同様に、現在の機器温度と前回の暗電流校正時の温度差を確認し、必要に応じて暗電流校正を再度実施してください。

2、クロック信号の異常

クロック信号ケーブルに緩みがないことを確認してください。新しいクロック信号ケーブルに交換して確認するか、クロスチェックを行い、CDR が正常に動作しているか確認してください。

3、光ポートの汚れ

FC端面検査器を使用して、DCAの光ポートおよび光ファイバーコネクタ端面に汚れや異物がないか確認してください。

4、設定の誤り

PC側のソフトウェアで、該当するデータレートおよび波長が正しく設定されていることを確認してください。

上記を確認してもTDECQの測定値にずれが残る場合は、同一の試験環境で別のDCAを使用してクロスチェックを行うことを推奨します。外部環境の影響を切り分けたうえで、FAE にお問い合わせください。

ER（消光比）の測定値に大きなずれが生じる場合、主に測定環境または設定に原因がある可能性があります。

1、暗電流校正時との温度差が大きい

現在の機器温度と前回の暗電流校正時の温度との差が大きすぎないか確認してください。Setup → Display Setup で温度表示を有効にすることを推奨します。有効にすると、温度がアイダイアグラムの上部に表示されます。

2、ERCF設定の誤り

PC側のソフトウェアで Measure → Config Base Measurments を開き、チャンネルおよびデータレートごとに ERCF を設定してください。ERCFは正負どちらの値にも設定できますが、±5%を超える設定は推奨しません。Apply にチェックを入れると設定が反映されます。

3、シングルモード／マルチモードの波長選択の誤り

850 nm と 1310 nm では異なるパラメータが使用されます。波長を誤って選択すると、計算結果に大きなずれが生じます。

上記を確認してもERの測定値にずれが残る場合は、同一の試験環境で別のDCAを使用してクロスチェックを行うことを推奨します。外部環境の影響を切り分けたうえで、FAE にお問い合わせください。