
Q&A
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FAQ
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オートレンジモードでスイープ測定を行うと、測定したI-V曲線が非線形(直線にならない)になるのはなぜですか?
オートレンジ(Auto Range)を使用すると、スイープ中のレンジ切り替え時に測定データにわずかな変動が生じる場合があります。そのため、スイープ測定ではオートレンジではなく、固定レンジモードの使用を推奨します。

推奨設定:スイープ測定を行う際は、電圧レンジと電流レンジの両方を固定レンジに設定してください。
例えば、0.5 Aから1 Aまで電流をスイープする場合、固定電流レンジとして1.5 Aを選択できます。
?Q
2つの異なるソースメーターで同じ資材の暗電流を測定する場合、結果に大きな差が出るのはなぜですか?
これは通常、測定レンジの選択が適切でないことが原因です。
原因:暗電流は通常、非常に微小です。測定レンジが大きすぎると測定分解能が不足し、大きな測定誤差が生じる可能性があります。

100 μAレンジ
解決方法:暗電流を測定する際は、微小電流の測定に適したレンジを手動で選択してください(例えば、電流レンジを1 μAレンジに固定します)。適切なレンジに変更して固定することで、正確かつ一貫性のある測定結果を得ることができます。

1 μAレンジ
?Q
ビットエラーレートテスターテスト中に、なぜGUIがビットエラー65535以上の数字が表示されますか

ビットエラー率が大きすぎて、BERテストにオーバーフローが発生しました。設備の接地に注意してください。
?Q
BERテスターはプロセスに沿ってATEを作成するはずですが、なぜテスト中にアイパターンテストが中断されることがあります
感度テストがアイパターンテストと同期して行われているかどうかを確認してください。感度テスト中にロックされていないと判断した場合はRELOCKコマンドが実行され、これにより、TX側が再初期化されます。この時点でアイパターンテストが進行中であれば、テストが中断される可能性があります。

?Q
なぜBERテスターの自動エラーレートテストは常に大きなエラーレートを読み取るのでしょうか?
おそらくテストプロセスに問題があります。設定後、エラーレートテストを始める前に、モジュールロックステータスを確認してください。

?Q
BERテスターの位置を変えた後、なぜアイパターンテストの結果が悪くなるのでしょうか?
テスト環境に問題がない場合、環境と製品に基づいてプリエンファシスを調整する必要があります。以下の図のように3Tapを調整します

?Q
BERテスターに搭載されたtrigを使用して、アイパターンテストがBERテストメーターチャンネルを変えると、trigがロックできず、アイパターンテストに失敗しました。
?Q
BERテスターの極性が逆になっていると、通信が正常に行われますか?
?Q
BERテスターを訂正した後もエラーが残っていますが、それはどういうことなんでしょうか?通常、どのような原因でこのようなことが起こるのでしょうか?


分布から見ると、チャンネルにはバーストビットエラーが存在するため、訂正後のビットエラー>0。symbol errの分布がの理論上のFEC誤り訂正能力(<15)を超えているからです (<15)。E-9のビットエラーレートは平均ビットエラーレートであり、散発的なバーストビットエラーが隠されており、簡単には見えないです。
FEC誤り訂正能力解析: 下図は上記の2つの状況の極端なシーンです。両方のビットエラー分布はFECによる誤り訂正後が0である要件を満たしています。ただし、上の図に1列追加されたり、下の図に1bit追加されたりすると、FECが訂正できない状態が発生します。
散発的に大きなビットエラーが発生した原因: チャンネルクロストーク、リンク損失、DFE処理は、いずれもバーストビットエラーが発生する可能性があります。ある時間に、あるデータパケットには、誤り訂正アルゴリズムの能力を超えたバーストビットエラーが存在することがあります。それは一瞬で大面積かつ連続してデータパケット内に分布している場合もあれば、各符号内でランダムに現れることもありますが。ただし、その発生回数が十分に多い場合、このような状況はその瞬間において修復できないデータパケットの発生を引き起こす可能性があります。
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