ベンチトップ型高精度ソースメーター
S2024H
24チャンネル高精度SMU
蘇州聯訊 S2024H 高精度SMUは、コンパクトで効率的で費用対効果の高い24チャンネルベンチトップ型SMUで、電圧と電流を同時に出力・測定することができ、最大±4.5V、±10 mA（DC/パルス）の出力機能と優れたカラーLCDグラフィックユーザーインタフェース(GUI)を備えています。
特徴
広い測定範囲
測定範囲: ±4.5 V、 ±10 mA(DC、パルス)
高い分解能
最小測定分解能は10 pA/1 μVに達します
サンプリングレートが高い
最大1MのADCサンプリングレートに対応
しきい値トリガー
ハードウェアによる高速IOは、しきい値トリガーを実現し、出力測定値とユーザーシステムの効率的なインタラクションを実現|
電圧精度 |
測定範囲 |
測定分解能 |
精度(1年) ±(%読み取り値+バイアス) |
雑音の標準値 (有効値) 0.1 Hz-10 Hz |
|
±4.5V |
1 uV |
0.02%+100μV |
50 uV |
|
|
温度係数 |
±(0.15 × 精度仕様)/℃ (0℃-18℃、28℃-50℃) |
|||
|
時間の設定 |
<100 μs（標準値） |
|||
|
オーバーショート |
<±0.1%(標準値、Normal、ステップは範囲の10%から90%、測定範囲内の最大値、抵抗負荷テスト) |
|||
|
電流精度 |
測定範囲 |
測定分解能 |
精度(1年) ±(%読み取り値+バイアス) |
雑音の標準値 (有効値) 0.1 Hz-10 Hz |
|
±10 mA |
10nA |
0.05%+5μA |
20 nA |
|
|
±1 mA |
1nA |
0.05%+500nA |
10 nA |
|
|
±100 μA |
100 pA |
0.05%+50nA |
1nA |
|
|
±10 μA |
10 pA |
0.05%+5nA |
100 pA |
|
|
温度係数 |
±(0.15 × 精度仕様)/℃ (0℃-18℃、28℃-50℃) |
|||
|
時間の設定 |
<2ms(標準値) |
|||
|
オーバーショート |
<±0.1%(標準値、Normal、ステップは範囲の10%から90%、測定範囲内の最大値、抵抗負荷テスト) |
|||
1、すべてのチャンネルの出力はアースから絶縁されているが、各チャンネル出力の接地が共有(LO)
|
プログラミング可能な最小パルス幅 |
250 μs |
|
パルス幅プログラミング分解能 |
1 μs |
|
パルス幅プログラミング精度 |
±10 μs |
|
パルス幅ジッター |
2 μs |
|
パルス幅の定義 |
次の図に示すように、10 %の先頭から90 %の立ち下がり区間までの時間 |
|
出力 |
最大出力 |
標準立ち上がり時間 1 |
標準安定時間2 |
テスト負荷 |
|
電圧源 |
4.5 V |
100 μs |
200 μs |
無負荷 |
|
電流源 |
10mA |
60 μs |
100 μs |
全負荷時3 |
|
1mA |
800 μs |
1 ms |
全負荷時3 |
|
|
100uA |
120 μs |
180 μs |
全負荷時3 |
|
|
10 μA |
1.5 ms |
2 ms |
全負荷時3 |
1、パルスの先頭が10%から90%までの所要時間。
2、パルスが最終値まであと1%に達するまでの所要時間。
3、テスト条件:normal純抵抗全負荷電圧が4.5Vに上昇
|
設定方法 |
設定範囲 |
|
NPLC |
0.00005PLC ~ 10PLC |
|
Sampling Rate |
5sps ~ 1.0Msps |
誤差が増大する測定範囲のパーセンテージ
|
PLC |
測定範囲 |
||||
|
4.5V |
10uA |
100μA |
1mA |
10mA |
|
|
0.1 |
0.01% |
0.02% |
0.01% |
0.02% |
0.01% |
|
0.01 |
0.3% |
0.2% |
0.04% |
0.04% |
0.02% |
|
0.001 |
3.2% |
2.5% |
0.4% |
0.3% |
0.03% |
| インターフェース | USB 本体のインターフェース | ||||
ドキュメントのダウンロード
DS70000データマニュアルDS70000データマニュアルDS70000データマニュアルDS70000データマニュアルDemocode
DS70000データマニュアルDS70000データマニュアルDS70000データマニュアルDS70000データマニュアルその他おすすめ
情報通信の基盤である光通信ネットワークはビッグデータ、クラウドコンピューティング、5G通信など社会の幸せと技術の進化を支える重要な役割を果たしています。蘇州聯訊の光通信関連設備は光モジュールや光学機器など基盤製品の生産プロセス、検査プロセスに使用されるサンプリングオシロスコープ、BERメーター、波長測定計、分光器、流量計及び汎用光学計測機器などをラインナップし、マーケットにコミットしたトータルソリューションをご提供します。
Details
蘇州聯訊の高精度ソースメーターは優れた操作性を維持しながら、安定した電圧（DC/AC）、電流（DC/AC）の供給と高い測定精度を実現した電子負荷装置で、産業用や研究開発用として幅広く製品を展開してきました。
Details
LDのバーンインテストは、LDの信頼性を確保するための重要なテスト手法として産業用プロセスに広く活用されています。COC、COSまたはDIEのバーンインテストを通じて、LD生産プロセスによる欠陥を早期に発見し、後工程でのLDの故障や不良を防止できます。LDスクリーニングによる廃却損失の低減、サイクルタイムの向上、工程内のムダを発見することでチップ生産の効率を大幅に向上させます。蘇州聯訊はDIEからCOCまで、高温から-40℃の低温まで、トータルソリューションを提供し、多様なお客様の要件にお応えします。
Details
半導体のフロントエンドテストは主にウェハーの加工プロセスで実施されます。これにより、ウェハー製造プロセスの各工程の指標、閾値、パラメータ要件などは設計の目標値を満たしているかを確認し、良品率に影響を与える欠陥を早期に発見することができます。
Detailsメールアド
サービスホ
サービスホ
氏名
メールアドレス
メールアドレスの認証コード
電話番号
パスワード
パスワードを確認
メールアドレス
メールアドレスの認証コード
新しいパスワード
パスワードを確認
マニュアルEN
プロトタイプの申し込み
