MTP8104-聯訊儀器

特徴

柔軟に適用: 広いレート範囲、優れた性能
対応レート範囲：24.33~56.4 GBaud
各チャンネルはそれぞれNRZまたはPAM4信号フォーマットに単独設定可能
テスト機能が充実
モジュールプロトコル、エラーレート解析、FEC誤り訂正解析をカバー
高精度BERサンプリングモードに対応 (<10ms)
総合的にコストが低い
豊富な部品とオプションがあり、消耗品の維持費が低く、MCB消耗品は単独に交換可能
テストステーションの構成がより柔軟で、部品の交換が便利で、総合的なテストコストが大幅に削減
高効率のワンストップソリューション
TEC温度サイクル制御システムを統合し、低コストで迅速かつ効率的な3温度帯テストを実現
ATEの活用シーンに適合
柔軟で優れたデータベース管理機能により、研究開発時にデータの詳細分析に役立ちます
イーサネットポートまたはUSB制御インターフェースを介して外部API（LabVIEW、C#）を呼び出し、並行で製品のプログラム制御を可能に
多様なテストパターンに対応
PRBS7~31Q、SSPRQ/JP03A/JP03B/LIN/スクエアウェーブ/カスタムパターンなど

機能と利点

複数ホストの並行プログラム制御により、より柔軟なATEマルチスレッドタスク処理が可能
異なるタイプのモジュールの並行テストが可能で、OSFP/QSFP-DD/QSFP112/QSFP56モジュールのテストに対応
合理な設計--両面TEC＋水冷機により、より優れた温度サイクル効率を実現
温度上昇と下降の時間：～2 min
温度制御範囲：-5˚C～+75˚C
温度制御の精度：±1℃
温度テスト：モジュールDMI温度
テスト対象モジュールの消費電力：15W/モジュール
テスト対象モジュールの数：4つのQSFP-DDモジュールの並列温度制御
光インターフェースビットエラーレートテスター（BERT）、MCB、およびTEC温度サイクル制御ユニットを統合
高温・低温環境での400G/800G光モジュールのBER性能とアイパターン品質テストに使用可能
QSFP-DD、OSFP、QSFP112などの光モジュールパッケージング方法に対応
消耗品の維持--便利で経済的
マザーボード/MCB分離設計 - モジュールのプラグイン/プラグアウトの最大回数に達した後は、MCBだけを取り外して交換することが可能
光モジュールのプラグイン/プラグアウト - システムはリアルタイムでカウントし、消耗品の寿命をユーザーに適時に通知
TEC/圧着ボックス/MCBなどの消耗品部品は、簡単に取り外し・取り付けができるように設計されています

800G トランシーバーテストヘッド
製品名	モジュール種類	テストの数
MTP8104	400G/800G OSFP	4
MTP8104	400G/800G QSFP_DD	4

発射機仕様

パラメータ名	パラメータタイプ	仕様
パターンジェネレーター仕様	出力タイプ	差動/単端PAM4/NRZ
	モジュールポート数	4
	端末	交流結合
	出力インピーダンス	100 Ω ± 10%
	データパターン	PRBS 7/9/11/13/15/23/31, PRBS7~31Q； SSPRQ，JP03A，JP03B，LIN，方波、自定义コード型など
	符号レート(GBaud)^[1]	24.33/24.8832/25/25.78125/26.5625/27.89/27.95/28.05/28.125/ 28.2/48.66/49.7664/51.5625/53.125/56/56.25/56.4
	周波数精度	±50 ppm (typical)
	最大出力幅 (差動)	750 mVp-p (typical)^[2]
	立ち上がり時間 (20-80%) ^[3]	<10 ps (typical)
	立ち下がり時間 (20%-80%)^[3]	<10 ps (typical)
	ランダムジッター ^[4]	<350 fs (typical)
出力クロック仕様	出力幅度	>300 mVp-p
	出力タイプ	交流結合、単端
	分周比設定可能な分周	4/8/16/32
	出力をトリガーする	各ポート独立のトリガークロック出力をサポート

[1] オプションを追加することで、48G以下のほかの拡張速度にも対応可能

[2] 送信側の正味測定値で、デフォルトでプリエンファシス/ディエンファシスパラメーターになります

[3] 53.125 Gbps NRZ信号で測定

[4] ジッタ分離後にランダムジッタを測定

受信機仕様

パラメータ名	パラメータタイプ	仕様
ビットエラー検出器の仕様	入力タイプ	差動PAM4 /NRZ
	端末	ACカップリング
	入力インピーダンス	100 Ω ±10%
	受信幅(差動) ^[1]	150 ~ 750 mVp-p (typical)
	受信感度(差動)^[1]	150 mVp-p (typical)
	データパターン	PRBS 7/9/11/13/15/23/31，PRBS7~31Q, SSPRQ
	符号レート(GBaud)^[2]	24.33/24.8832/25/25.78125/26.5625/27.89/27.95/28.05/ 28.125/28.2/48.66/49.7664/51.5625/53.125/56/56.25/56.4
	クロックモード	クロックリカバリーを搭載
	同期タイプ	自動同期 (レベル/位相)

[1] 被測定デバイスの出力振幅が大きすぎると、受信機が損傷する可能性があります
[2] オプションを追加することで、48G以下のほかの拡張速度にも対応可能

モジュールテスト仕様

パラメータ名	パラメータタイプ	仕様
温循指標^[1][2]	温度制御方式	接触式 TEC 温度制御
	温度上昇と下降の範囲	-5 ~＋85 ℃ ^[3]
	安定性	±1 ℃ ^[4]
	温度制御精度	±0.1 ℃
光モジュールの偏差テスト仕様	出力範囲	2.85～3.67 V
光モジュールの偏差テスト仕様	歩進精度	1 mV^[5]

[1] 温度上昇・下降の効率は、現場の環境温度、モジュールの消費電力や熱源位置、水冷機の出力などの要因によって変動します

[2] 低温で長時間使用する場合、結露する恐れがあり、乾い空気をテストキャビティに通し、定期的に温度を上げて乾燥させるものとします

[3] テスト環境: 室温25℃で、15Wモジュールは密閉空間に置き、外部との熱交換を減らします。モジュールが報告するDMI温度をフィードバックとして使用

[4] 設定温度と測定対象のハウジング温度との温度差を複数回測定

[5] 聯訊実験室のテスト環境で測定（温度 25℃一定、負荷 12W 一定）

Site Map