高速トランシーバーATE
MTP8104
800G トランシーバーテストヘッド
蘇州聯訊800Gトランシーバーテスターは、光インターフェースビットエラーレートテスター(BERT)と3温度帯制御ユニットを統合したBER総合テストシステムです。
特徴
柔軟に適用: 広いレート範囲、優れた性能
対応レート範囲：24.33~58Gbaud
テスト機能が充実
モジュールプロトコル、エラーレート解析、FEC誤り訂正解析をカバー
総合的にコストが低い
豊富な部品とオプションがあり、消耗品の維持費が低く、MCB消耗品は単独に交換可能高効率のワンストップソリューション
TEC温度サイクル制御システムを統合し、低コストで迅速かつ効率的な3温度帯テストを実現ATEの活用シーンに適合
柔軟で優れたデータベース管理機能により、研究開発時にデータの詳細分析に役立ちます
多様なテストパターンに対応
PRBS7~31Q、SSPRQ/JP03A/JP03B/LIN/スクエアウェーブ/カスタムパターンなど機能と利点
複数ホストの並行プログラム制御により、より柔軟なATEマルチスレッドタスク処理が可能
異なるタイプのモジュールの並行テストが可能で、OSFP/QSFP-DD/QSFP112/QSFP56モジュールのテストに対応
合理な設計--両面TEC＋水冷機により、より優れた温度サイクル効率を実現
温度上昇と下降の時間：～2 min
光インターフェースビットエラーレートテスター（BERT）、MCB、およびTEC温度サイクル制御ユニットを統合
高温・低温環境での400G/800G光モジュールのBER性能とアイパターン品質テストに使用可能
消耗品の維持--便利で経済的
マザーボード/MCB分離設計 - モジュールのプラグイン/プラグアウトの最大回数に達した後は、MCBだけを取り外して交換することが可能
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800G トランシーバーテストヘッド |
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製品名 |
モジュール種類 |
テストの数 |
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MTP8104 |
400G/800G OSFP |
4 |
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400G/800G QSFP_DD |
4 |
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発射機仕様
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パラメータ名 |
パラメータタイプ |
仕様 |
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パターンジェネレーター 仕様 |
出力タイプ |
差動/単端PAM4/NRZ |
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モジュールポート数 |
4 |
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端末 |
交流結合 |
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出力インピーダンス |
100 Ω ± 10% |
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データパターン |
PRBS 7/9/11/13/15/23/31, PRBS7~31Q； SSPRQ，JP03A，JP03B，LIN，方波、自定义コード型など |
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符号レート(Gbaud)① |
24.33/24.8832/25/25.78125/26.5625/27.89/27.95/28.05/28.125/ |
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周波数精度 |
±50 ppm (typical) |
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最大出力幅 (差動) |
750 mVp-p (typical) ② |
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立ち上がり時間 (20-80%) ③ |
<10 ps (typical) |
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立ち下がり時間 (20%-80%)③ |
<10 ps (typical) |
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ランダムジッター ④ |
<350 fs (typical) |
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出力クロック仕様 |
出力幅度 |
>300 mVp-p |
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出力タイプ |
交流結合、単端 |
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分周比 設定可能 |
4/8/16/32 |
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出力をトリガーする |
RFスイッチ切替時のクロック出力をサポート |
①オプションを追加することで、48G以下のほかの拡張速度にも対応可能
② 送信側の正味測定値で、デフォルトでプリエンファシス/ディエンファシスパラメーターになります
③53.125 Gbps NRZ信号で測定
④ジッタ分離後にランダムジッタを測定
受信機仕様
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パラメータ名 |
パラメータタイプ |
仕様 |
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ビットエラー検出器の仕様 |
入力タイプ |
差動PAM4 /NRZ |
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端末 |
ACカップリング |
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入力インピーダンス |
100 Ω ±10% |
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受信幅(差動) ① |
150 ~ 750 mVp-p (typical) |
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受信感度(差動)① |
150 mVp-p (typical) |
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データパターン |
PRBS 7/9/11/13/15/23/31，PRBS7~31Q； |
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|
符号レート(Gbaud)② |
24.33/24.8832/25/25.78125/26.5625/27.89/27.95/28.05/ |
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クロックモード |
クロックリカバリーを搭載 |
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同期タイプ |
自動同期 (レベル/位相) |
①モジュールの測定値が高すぎる電圧入力は、受信機を損傷する可能性があります
②オプションを追加することで、48G以下のほかの拡張速度にも対応可能
モジュールテスト仕様
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パラメータ名 |
パラメータタイプ |
仕様 |
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温循指標①② |
温度制御方式 |
接触式 TEC 温度制御 |
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温度上昇と下降の範囲 |
-5 ~＋85 ℃ ③ |
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安定性 |
±1 ℃ ④ |
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温度制御精度 |
±0.1 ℃ |
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光モジュールの偏差テスト仕様 |
出力範囲 |
3.069～3.5 V |
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歩進精度 |
1 mV |
①温度上昇・下降の効率は、現場の環境温度、モジュールの消費電力や熱源位置、水冷機の出力などの要因によって変動します
②低温で長時間使用する場合、結露する恐れがあり、乾い空気をテストキャビティに通し、定期的に温度を上げて乾燥させるものとします
③テスト環境: 室温25℃で、15Wモジュールは密閉空間に置き、外部との熱交換を減らします。モジュールが報告するDMI温度をフィードバックとして使用
④設定温度と測定対象のハウジング温度との温度差を複数回測定
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