高速トランシーバーATE
ATE8104/ATE8108
トランシーバーテストオールインワンシステム
ATEオールインワンテストシステムは、光モジュールの様々なテストケースを考慮した上で、機能要件に対するニーズの割合に応じて各サブモジュールを統合しました。ユーザーは実際のテスト要件に応じて設定を最適化し、柔軟に組み合わせることができ、トランシーバーテストメーターの利用率を向上させ、テストのコストを効果的に削減できます。
統合されたソフトウェアは、トランシーバーテストにおける様々なパラメータをまとめています。ユーザーは積み木を積むように速やかにテストシステムを構築し、新製品の量産導入を早めることができます。
システム全体はマルチチャンネル並列テストに対応し、ソフトウェアとハードウェアの組み合わせで、機器とソフトウェアの機能を十分に発揮させ、製品一つ一つのテスト効率を大幅に向上させることができます。
特徴
統合されたプラグイン型光学計測器
各機能モジュールはプラグインモジュールに統合されることで、ユーザーがハードウェアの構成を柔軟に最適化することができますソフトウェアのプラットフォーム化
ソフトウェアは高度に統合されており、ソフトウェアの各サブ機能モジュールを自由に呼び出したり、組み合わせたりすることが可能複数チャンネルの並列テスト
チャンネルの数を増やし、並列でテストさせることにより、テスト効率を大幅に向上させることが可能統合されたTEC 温度制御システム
モジュールの-40 ℃~90 ℃の温度サイクル試験に対応機能と利点
プラグイン型光学計測器
光パワーメータ/光スイッチ/光減衰器/光CDRといった常用光学計測器を統合し、MUX/DEMUX/Splitterといった常用受動部品を統合することで、柔軟に設定可能統合温度サイクル試験システム
TECベースの温度制御システムプラットフォーム化のソフトウェアシステム
サブ機能のモジュール化を実現ソフトウェアによるレポートの自動作成
合格率分析ドキュメントのダウンロード
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