検索キーワードを入力してください!

Site Map

サイトマップ

PXIeプラグインソースメーター

S2013C

単一チャンネル PXIe 高精度SMU


蘇州聯訊S2013C コンパクトで効率的で費用対効果の高いシングルチャネルPXIe SMUは、電圧と電流を同時に出力・測定することができ、最大±200V、±1 A(DC)、±3A(パルス)、20W定電力の出力を提供することができ、従来のSMU SCPIコマンドに対応し、テストコードの移行を簡単かつ迅速にし、既存の大手のPXIeシャーシと組み合わせて使用することができ、マルチカード同期に対応し、生産テストシステムに統合して使用することで、システムのテスト効率を高め、コストを削減することができます。




特徴

  • 高精度

    分解能は100 fA/100 nV、
    電圧精度は100 μV、
    電流精度は1 μA
  • 広い測定範囲、高速測定

    ±200 V、±1 A(DC)、
    ±3 A (パルス)、
    最大1Mのサンプリングレートに対応
  • Adaptive PFCシステム

    Adaptive PFC
    (Precise-Fast Control) システムを利用して、
    ユーザーは負荷特性に応じて、関連するパラメータを調整できます
  • シングルチャネルテストシステムを構築

    標準PXIeシャーシを使用することで、
    総合的な4象限テストを簡単に実現

機能と利点

  • 5つの機能を同時搭載

    電圧源
    、電流源
    、電流計
    、電圧計
    、電子負荷
  • 1、3象限をソースにする:出力V/Iの実際の極性はソースによって設定します。
     2、4象限を負荷にする:CCとCVを組み合わせて、負荷として使われる場合、負荷設定極性はソース極性と逆になります。
  • 各種のデバイスをテスト可能

  • より多くのテストデータを取得

    ♦ 6桁半のデジタル分解能:精度は6 1/2桁のデジタル回路計に相当します。
    ♦100 fA / 100 nVの分解能: 設定と測定の優れた感度。♦1Mポイント/秒: 高速に測定でき、任意の波形発生器(リスク掃引)を迅速に設定/デジタル化することができます。
  • 多様なスキャン機能

  • DC I-V出力能力

  • パルスI-V出力能力

電圧仕様





電圧精度
測定範囲 分解能の設定 精度(1年)±(%読み取り値+バイアス) 雑音の標準値(有効値)0.1 Hz-10Hz
±200 V 100 μV 0.03%+10 mV 0.4 mV
±20 V 10 μV 0.03%+1 mV 50 μV
±6 V 1 μV 0.03%+0.4 mV 9 μV
±0.6 V 100 nV 0.03%+100 μV 2 μV
温度係数 ±(0.15 × 精度仕様)/°C (0℃-18℃、28℃-50℃)
時間の設定

<50μs(標準値)

オーバーショート <±0.1%(標準値、Normal、ステップは範囲の10%から90%、測定範囲内の最大値、抵抗負荷テスト)
ノイズ 10Hz-20MHz

20V電圧源、1A抵抗負荷、<5 mVrms


電流仕様









電流精度
測定範囲 分解能の設定 精度(1年)±(%読み取り値+バイアス) 雑音の標準値(有効値)0.1 Hz-10Hz
±3 A1 1 μA 0.03% + 2 mA 20 μA
±1 A 100 nA 0.03% + 90 μA 4 μA
±100 mA 10 nA 0.03% + 9 μA 600 nA
±10 mA 1 nA 0.03% + 900 nA 60 nA
±1 mA 100 pA 0.03% + 90 nA 6 nA
±100 μA 10 pA 0.03% + 9 nA 700 pA
±10 μA 1 pA 0.03% +1 nA 80 pA
±1 μA2 100 fA 0.03% + 200 pA 20 pA
温度係数 ±(0.15 × 精度仕様)/°C (0℃-18℃、28℃-50℃)
時間の設定

<100 μs(標準値)

オーバーショート <±0.1%(標準値、Normal、ステップは範囲の10%から90%、測定範囲内の最大値、抵抗負荷テスト)


1、3A測定範囲はパルスモードにのみ対応しており、精度は標準値

2、微小電流測定は、トライアキシャル・ケーブルを使用することをおすすめします。Hiは芯線に接続し、Guardは内部遮蔽層に接続し、外部遮蔽層は保護接地し、LOは芯線に接続し、内部遮蔽層は接続なし、外部遮蔽層は保護接地し、同軸ケーブルの定格絶縁電圧は250V以上



パルス仕様 (4線式)

プログラミング可能な最小パルス幅 100 μs
パルス幅プログラミング分解能 1 μs
パルス幅プログラミング精度 ±10 μs
パルス幅ジッター 2 μs
パルス幅の定義 次の図に示すように、10 %の先頭から90 %の立ち下がり区間までの時間


パルス技術仕様 最大電流制限 最大パルス幅 最大デューティ比
1 0.1 A/200 V DC、無制限 1
2 1 A/20 V DC、無制限 1
4 3 A/66.6 V 1 ms 0.05
5 3 A/160 V

400 μs

0.02


パルス立ち上がり時間(4線式)

出力 最大出力 標準立ち上がり時間 1 標準安定時間2 テスト負荷


電圧源

160 V 800 μs 1.2 ms 無負荷
5 V 40 μs 100 μs 無負荷



電流源

10 A~100 μA 90 μs 250 μs 全負荷時3
10 μA 120 μs 400 μs 全負荷時3
1 μA 800 μs 1.2 ms 全負荷時3


1、パルスの先頭が10%から90%までの所要時間。
2、パルスが最終値まであと1%に達するまでの所要時間。
3、テスト条件:normal純抵抗全負荷電圧が6Vに上昇



出力セットアップ時間


出力


測定範囲

標準出力セットアップ時間1
Fast2 Normal Slow




電圧源

200 V <500 μs <1 ms <2 ms
20 V <60 μs <100 μs

<600 μs

6 V <60 μs <100 μs

<300 μs

0.6 V <50 μs <50 μs

<50 μs



電流源

3 A~100 μA

<50 μs <100 μs <0.8 ms
10 μA <100 μs <150 μs <0.8 ms

1 μA

<1 ms <1 ms <1 ms


1、出力スルーレート: Fast、Normal、Slow。ユーザーは自分で負荷特性に応じてAPFCパラメータを調整して、適切なセットアップ時間や安定性を得ることができます。

2、Fastモードは、異なる測定範囲や負荷条件で出力する場合、大きなオーバーシュートを引き起こす可能性があり、オーバーシュートに対する感度が高い機器にはnormalモードまたはSlowモードをお勧めします。



サンプリングレートとNPLCの設定

設定方法 設定範囲
NPLC 0.00005 PLC ~ 10 PLC
Sampling Rate 5 sps ~ 1 Msps


ほかの特徴

センサモード 2線式または4線式 (リモートセンシング) 接続
最大のセンサリード抵抗 1 kΩ(定格精度)
リモートセンシング出力側とセンシング側間の最大電圧 1 V
出力コネクタの最大出力電圧 >105%フルスケール
SWEEP掃引

掃引間隔は20μsから16sまで設定可能で、単掃引は最大8Kポイントに設定可能

測定範囲自動設定 当該機能を搭載しています。オーバーシュートに対する感度が高い機器には測定範囲を切り替える前に出力をオフにすることをおすすめ
遅延測定(SOURCE DELAY) 当該機能を搭載しています。より正確な値を測定するために、適切なSOURCE DELAYを設定することをお勧めします
過熱保護 内部温度が高すぎると検出される場合、出力をオフにし、温度が65℃以下に下回った後に動作を再開
その他の出力異常保護 電源を切って再起動すれば、動作の再開またはハードウェアの損傷の修復が可能


その他おすすめ

光ネットワークテスト関連製品
光ネットワークテスト関連製品

情報通信の基盤である光通信ネットワークはビッグデータ、クラウドコンピューティング、5G通信など社会の幸せと技術の進化を支える重要な役割を果たしています。蘇州聯訊の光通信関連設備は光モジュールや光学機器など基盤製品の生産プロセス、検査プロセスに使用されるサンプリングオシロスコープ、BERメーター、波長測定計、分光器、流量計及び汎用光学計測機器などをラインナップし、マーケットにコミットしたトータルソリューションをご提供します。

Details
電気特性計測関連設備
電気特性計測関連設備

蘇州聯訊の高精度ソースメーターは優れた操作性を継承しながら、安定な電圧(DC/AC)、電流(DC/AC)の供給と高い測定精度を実現した電子負荷装置で、産業用、研究開発用として幅広く製品を展開してきました。

Details
レーザーダイオードチップテスター
レーザーダイオードチップテスター

LDのバーンインテストは、LDの信頼性を担保するための重要なテスト手法として産業用プロセスに広く活用されています。COC、COSまたはDIEのバーンインテストを通じて、LD生産プロセスによる欠陥を早期に発見し、後工程のLD故障、不良を防げます。LDスクリーニングによる廃却損失の低減、サイクルタイムの向上、工程内のムダを発見することでチップ生産の効率を大幅に向上させます。蘇州聯訊はDIEからCOCまで、高温から-40℃の低温まで、トータルソリューションを提供し、様々なお客様の要件に満足します。

Details
パワー半導体KGDテスター
パワー半導体KGDテスター

半導体のフロントエンドテストは主にウェハーの加工プロセスで実施されます。これにより、ウェハー製造プロセスの各工程の指標、閾値、パラメータ要件などは設計狙い値を満たしているかを確認し、良品率に影響を与える欠陥を早期に発見できます。

Details
ログイン後 すぐダウンロードできます!

アカウント

パスワード

新規登録 今すぐダウンロード!

氏名

氏名を入力してください *

メールアドレス

メールアドレスを入力してください *

メールアドレスの認証コード

メールアドレスの認証コードを入力してください

電話番号

連絡先の電話番号を入力してください *

パスワード

ログインパスワードを入力してください *

パスワードを確認

ログインパスワードをもう一度入力してください *
パスワードを取り戻す

メールアドレス

メールアドレスを入力してください *

メールアドレスの認証コード

メールアドレスの認証コードを入力してください

新しいパスワード

ログインパスワードを入力してください *

パスワードを確認

ログインパスワードをもう一度入力してください *