通信機器S 3012 H精密電源/測定ユニット-聯訊儀器

特徴

広い測定範囲
測定範囲：±200V、±3 A(DC)、±10 A(パルス)
高い分解能
最小測定分解能は100 fA/100 nVに達します
サンプリングレートが高い
最大1MのADCサンプリングレートに対応
ハードウェア同期
単一設備とマルチ設備の同期、ハードウェアによる高速同期で、マルチチャンネルで低遅延の同期を実現

機能と利点

5つの機能を同時搭載
電圧源
電流源
電流計
電圧計
電子負荷
1、3象限をソースにする：出力V/Iの実際の極性はソースによって設定します。
2、4象限を負荷にする：CCとCVを組み合わせて、負荷として使われる場合、負荷設定極性はソース極性と逆になります。
各種のデバイスをテスト可能
より多くのテストデータを取得
♦ 6桁半のデジタル分解能：精度は6 1/2桁のデジタル回路計に相当します。
♦100 fA / 100 nVの分解能: 設定と測定優れた感度。♦1Mポイント/秒: 高速に測定でき、任意の波形発生器（リスク掃引）を迅速に設定/デジタル化することができます。
多様なスキャン機能

電圧源仕様

電圧設定精度	測定範囲	分解能の設定	精度(1年)±(%読み取り値+バイアス)	雑音の標準値（有効値）0.1 Hz-10Hz
	±200 V	1 mV	0.02%+30 mV	1.5 mV
	±20 V	100 μV	0.02%+2 mV	160 μV
	±6 V	10 μV	0.02%+500 μV	36 μV
	±200 mV	1 μV	0.02%+120 μV	4 μV
温度係数	±(0.15 × 精度仕様)/°C (0℃-18℃、28℃-50℃)
シングルチャンネルの最大パワー	30 W: ±20 V@1.5 A; 30 W: ±200 V@0.15 A; 18 W: ±6 V@3 A
時間の設定	<800 μs（標準値）
オーバーショート	<±0.1%(6V電圧源、Normal、ステップは範囲の10%から90%、測定範囲内の最大値、抵抗負荷テスト)
ノイズ 10Hz-20MHz	<3mVrms(6V電圧源、3A抵抗負荷)

[1]精度計算の例：200mVレンジで120mV 出力の精度をテストする場合、許容差は：

[2]本仪表には潜在的な危険な高圧(±210 V)がHI /Sense HI/Guard 端子に出力されます。電撃を防ぐために、電源を入れる前に関連する安全対策を講じる必要があります。Guard 端子を任意の出力に接続しないでください。シャーシの接地や出力 LOに短絡することは、機器を損傷する原因となります

電流源仕様

電流設定精度	測定範囲	分解能の設定	精度(1年)±(%読み取り値+バイアス)	雑音の標準値（有効値）0.1 Hz-10Hz
	±10 A¹	50 μA	0.4% + 40 mA	NA
	±3 A	15 μA	0.05% + 5 mA	40 μA
	±1.5 A	10 μA	0.02% + 500 μA	20 μA
	±150 mA	1 μA	0.02% + 25 μA	4 μA
	±15 mA	100 nA	0.02% + 6 μA	700 nA
	±1.5 mA	10 nA	0.02% + 250 nA	16 nA
	±150 μA	1 nA	0.02% + 25 nA	1 nA
	±15 μA	100 pA	0.02% + 3 nA	140 pA
	±1.5 μA	10 pA	0.03% + 450 pA	25 pA
	±150 nA	1 pA	0.05% + 250 pA	5 pA
温度係数	±(0.15 × 精度仕様)/°C (0℃-18℃、28℃-50℃)
シングルチャンネルの最大パワー	30W: ±20V@1.5A; 30W: ±200 V@0.15A; 18W: ±6 V@3A
時間の設定	<500 μs（標準値）
オーバーショート	<±0.1%(6V電圧源、Normal、ステップは範囲の10%から90%、測定範囲内の最大値、抵抗負荷テスト)

1、10A測定範囲はパルスモードにのみ対応しており、精度は標準値

電圧計仕様

電圧測定精度	測定範囲	表示分解能	精度(1年)±(%読み取り値+バイアス)
	±200 V	100 μV	0.02% + 30 mV
	±20 V	10 uV	0.02% + 2 mV
	±6 V	1 uV	0.02% + 500 μV
	±200 mV	100 nV	0.02% + 120 μV
温度係数	±(0.15 × 精度仕様)/°C (0℃-18℃、28℃-50℃)

電流計仕様

電流測定精度	測定範囲	表示分解能	精度(1年)±(%読み取り値+バイアス)
	±10 A¹	10 μA	0.4% + 25 mA
	±3 A	10 μA	0.05% + 2 mA
	±1.5 A	1 μA	0.02% + 500 μA
	±150 mA	100 nA	0.02% + 25 μA
	±15 mA	10 nA	0.02% + 6 μA
	±1.5 mA	1 nA	0.02% + 250 nA
	±150 μA	100 pA	0.02% + 25 nA
	±15 μA	10 pA	0.02% +3 nA
	±1.5 μA²	1 pA	0.03% + 450 pA
	±150 nA²	100 fA	0.05% + 250 pA
温度係数	±(0.15 × 精度仕様)/°C (0℃-18℃、28℃-50℃)

1、10A測定範囲はパルスモードにのみ対応しており、精度は標準値

2、微小電流測定は、トライアキシャル・ケーブルを使用することをおすすめします。Force Hiは芯線に接続し、Guardは内部遮蔽層に接続し、外部遮蔽層は保護接地し、Force Loは芯線に接続し、内部遮蔽層は接続なし、外部遮蔽層は保護接地し、同軸ケーブルの定格絶縁電圧は250V以上です。

絶縁抵抗計の仕様(4線式)

抵抗測定精度	測定範囲	表示分解能	デフォルトの測定電流	標準精度(1年)±(% 読み取り値+バイアス)
	1 Ω	1 μΩ	1 A	0.073% +0.3334 mΩ
	10 Ω	10 μΩ	150 mA	0.057% + 3.334 mΩ
	100 Ω	100 μΩ	15 mA	0.08% + 33.34 mΩ
	1 kΩ	1 mΩ	1.5 mA	0.057% + 333. 4 mΩ
	10 kΩ	10 mΩ	150 μA	0.057% + 3.334 Ω
	100 kΩ	100 mΩ	15 μA	0.06% + 33.34 Ω
	1 MΩ	1 Ω	1.5 μA	0.06% + 333.4 Ω
	10 MΩ	10 Ω	0.15 μA	0.35% + 3.334 kΩ
	100 MΩ	100 Ω	0.05 μA	0.95% + 10 kΩ
温度係数	±(0.15 × 精度仕様)/°C (0℃-18℃、28℃-50℃)
手動電流源抵抗測定(4線式)	総合誤差=測定電圧/電流源設定電流=抵抗の読み取り値x(電圧源測定範囲のゲイン誤差率+電流計測定範囲のゲイン誤差率+電流源測定範囲バイアス/設定電流)+(電圧源測定範囲バイアス/設定電流値) 例:電流源設定電流=1.5A 電圧測定範囲=6V 総合誤差=(0.02%+0.02%+500μA/1.5A)+(500μV/1.5A)≈0.073%+0.3334 mΩ

パルス仕様 (4線式)

プログラミング可能な最小パルス幅	100 μs
パルス幅プログラミング分解能	1 μs
パルス幅プログラミング精度	±10 μs
パルス幅ジッター	2 μs
パルス幅の定義	次の図に示すように、10 %の先頭から90 %の立ち下がり区間までの時間

パルス技術仕様	最大電流制限	最大パルス幅	最大デューティ比
1	0.15A/200V	DC、無制限	100%
2	1.5A/20V	DC、無制限	100%
3	3A/6V	DC、無制限	100%
4	3A/20V	1ms	10%
5	10A/6V	1ms	10%

パルス立ち上がり時間(4線式)

出力	測定範囲	標準立ち上がり時間 ^1,3	標準安定時間^2,3	テスト負荷
電圧源	200 V	600 μs	1.5 ms	無負荷
	20 V	200 μs	360 μs	無負荷
	6 V	160 μs	300 μs	無負荷
電流源	10 A	140 μs	320 μs	全負荷
	3 A	120 μs	280 μs	全負荷
	1.5 A	120 μs	280 μs	全負荷
	150 mA	120 μs	280 μs	全負荷
	15 mA	120 μs	280 μs	全負荷
	1.5 mA	120 μs	280 μs	全負荷

1、パルスの先頭が10％から90％までの所要時間。

2、パルスが最終値まであと1％までの所要時間。

3.電流源テストは6V電圧測定範囲で、クランプ回路が105%フルスケールに設定された上で実施されます。

その他おすすめ

高速通信テスト関連製品

情報通信の基盤である光通信ネットワークはビッグデータ、クラウドコンピューティング、5G通信など社会の幸せと技術の進化を支える重要な役割を果たしています。聯訊儀器の光通信関連設備は光モジュールや光学機器など基盤製品の生産プロセス、検査プロセスに使用されるサンプリングオシロスコープ、BERメーター、波長測定計、流量計及び汎用光学計測機器などをラインナップし、マーケットにコミットしたトータルソリューションをご提供します。

Details

電気特性計測関連設備

聯訊儀器の高精度ソースメーターは優れた操作性を維持しながら、安定した電圧（DC/AC）、電流（DC/AC）の供給と高い測定精度を実現した電子負荷装置で、産業用や研究開発用として幅広く製品を展開してきました。

Details

レーザーダイオードチップテスター

LDのバーンインテストは、LDの信頼性を確保するための重要なテスト手法として産業用プロセスに広く活用されています。COC、COSまたはDIEのバーンインテストを通じて、LD生産プロセスによる欠陥を早期に発見し、後工程でのLDの故障や不良を防止できます。LDスクリーニングによる廃却損失の低減、サイクルタイムの向上、工程内のムダを発見することでチップ生産の効率を大幅に向上させます。聯訊儀器はDIEからCOCまで、高温から-40℃の低温まで、トータルソリューションを提供し、多様なお客様の要件にお応えします。

Details

パワー半導体KGDテスター

半導体のフロントエンドテストは主にウェハーの加工プロセスで実施されます。これにより、ウェハー製造プロセスの各工程の指標、閾値、パラメータ要件などは設計の目標値を満たしているかを確認し、良品率に影響を与える欠陥を早期に発見することができます。

Details

Site Map