第24回中国国際光電博覧会は2023年9月6日から8日まで深セン国際会展センター（保安新館）で開催され、蘇州聯訊は400G/800G Test Headを携えて出展致します。ブース番号:10A73、ご来場をお待ちしております!

400G/800G トランシーバー・テスト・ソリューション

01 ディスクリート・テスト・ソリューション

ビットエラーレートテスター、オシロスコープ、クロックリカバリーユニットなどを含むスタンドアローンのベンチトップ型メーターにより、最大の柔軟性を実現

ディスクリートメータ400G/800G FR4 テストブロック図

02 統合式Test Head

従来のディスクリートテストプラットフォームに加え、蘇州聯訊は高度に統合されたTest Headをも提供

・MTP4101/MTP4102/MTP4104は、10Gbps~400Gbpsのトランシーバーテストに対応

・MTP8102は、800Gbps OSFP/QSFP-DDのトランシーバーテストに対応

Test Headの特徴

Test Headはビットエラーレートテスター(BERT) 、MCBテストボード、TEC温度サイクル制御システムを統合し、異なる温度環境での高速トランシーバーのビットエラーテストを実現

・統合式MCBテストカードは、柔軟かつ迅速なDUT MCB交換を実現

・統合されたビットエラーレートテスタープラットフォームは、追加のケーブルが不要で、テストステーションのスペースとコストをさらに削減

・統合されたTEC温度制御システムは、モジュール温度サイクルテストに対応

Test Headはモジュールタイプと並列テストに対応

800G Test Head2xFR4 テストブロック図

800G Test Head2xFR4 テストブロック図

03 コアメーターの特徴と紹介

  1 DCA6201 サンプリングオシロスコープ

    ・複数のFilterは選択可能：25.78/26.56/27.95/28.05Gbps，265625/28.9Gbaud PAM4

    ・SIRCによりfilter 範囲は拡張可能(12.44 Gbaud-56Gbaud)

    ・53Gbaud PAM4(SIRC)アイパターンテストに対応

    ・50GPON OLT TDEC(SIRC) テストに対応

    ・NRZとPAM4のテストに対応

2 56G ボーレートクロックリカバリーユニット

蘇州聯訊CR6256クロックリカバリーユニットは、24.8832~32.5 Gbaud/49.7664~56GbaudレートでのNRZ/PAM4信号クロック抽出に対応し、単一波53 Gbaudの光モジュールやインタフェースでのクロック抽出に広く利用されています

・シングル・マルチモードを一体に統合して、シングルモードとマルチモードの光信号クロックリカバリーに対応

・高感度

-12dBm @ 53.125 Gbaud PAM4

-14dBm @ 26.5625 Gbaud PAM4

・低いジッタ、回復されたクロックのランダムジッタの標準値 290fs

3 800Gビットエラーレートテスター

蘇州聯訊PBT8812高速シリアルビットエラーレートテスターは、24.33~56.25 Gbaud符号レートに対応し、200/400/800Gbps トランシーバーテストシーンを完全にカバー

・各チャンネルはそれぞれNRZまたはPAM4信号フォーマットに単独設定可能

・受信側の電気通信におけるアイパターンヒストグラムと信号対雑音比の測定に対応

・3次/7次モードで送信端末のプリエンファシスおよびディエンファシス変調が可能

・実際のFEC生成とテスト解析に対応