汎用ビットエラーレートテスター
PBT3058
1.6T ビットエラーレートテスター
特徴
速率範囲が広い
速率支持範囲：24.33 ~128 GBaud
配置が柔軟
テストユニットを柔軟に交換可能
優れた信号品質
高速立ち上がり・立ち下がりエッジ、低固有ジッター
パターンが豊富
PRBS7~31，PRBS7Q~31Q，SSPRQ 符号パターン機能と利点
FEC Simulation
PreBER/PostBER 測定
リアルタイムデータモニタリング
リアルタイムでビットエラーをモニタリング
履歴データ照会
履歴データ照会|
指標名 |
指標タイプ |
PBT3058 |
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コードジェネレーター |
出力タイプ |
差動 PAM4/NRZ |
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終端 |
ACカップリング | |
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出力インピーダンス |
100Ω +/-10% |
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テストコードタイプ |
PRBS7~31, PRBS7Q~31Q, SSPRQ, JP03A, JP03B, LINEAR, Square Wave, カスタムコードパターン |
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符号速率(GBaud)[1] |
24.33/24.8832/25/25.78125/26.5625/27.89/27.95/28.0 5/28.125/28.2/28.9/30/32; 48.66/49.7664/51.5625/53.125/56/56.25/56.4/57.8/58/ 58.125/59.37/60/64; 97.32/99.5328/100/103.125/106.25/112/112.2/112.5/ 112.8/113.4375/115.1/120/128 |
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周波数精度 |
±50 ppm (typical) |
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出力幅度(差分)[2] |
800 mVp-p |
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| 立ち上がり/立ち下がり時間 | ＜4.5 ps |
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随即抖动 |
TBD |
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時鐘出力[3] |
出力幅度 |
>300 mVp-p |
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ターミナル（シングルエンド出力） |
ACカップリング；MMCX female connector |
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分頻比 |
4/8/16/32/64/128 |
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光モジュールテストキット
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被測定対象タイプ |
OSFP |
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放熱方式 |
内部統合水冷システム |
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コネクタ |
MXPD/ SMPS |
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[1] 拡張レートを有効にするにはEDRオプションのアクティベーションが必要です；
[2] 送信側の正味測定値、デフォルトのプリエンファシス/ディエンファシスパラメータ；
[3]
トリガークロック出力はRFプローブのみでサポートされています。
| 指標名 | 指標タイプ | PBT3058 |
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誤り検出器 |
入力タイプ |
差動 PAM4 / NRZ |
| 終端 | 交流結合 | |
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入力インピーダンス |
100Ω+/-10% |
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受信振幅[3](差動) |
Max.800 mVp-p |
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受信感度度[4] (差動) |
150 mVp-p |
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データパターン |
PRBS7~31，PRBS7Q~31Q |
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クロックモード |
内蔵クロックリカバリ |
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| コネクタ |
MXPD/SMPS |
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その他おすすめ
LDのバーンインテストは、LDの信頼性を確保するための重要なテスト手法として産業用プロセスに広く活用されています。COC、COSまたはDIEのバーンインテストを通じて、LD生産プロセスによる欠陥を早期に発見し、後工程でのLDの故障や不良を防止できます。LDスクリーニングによる廃却損失の低減、サイクルタイムの向上、工程内のムダを発見することでチップ生産の効率を大幅に向上させます。聯訊儀器はDIEからCOCまで、高温から-40℃の低温まで、トータルソリューションを提供し、多様なお客様の要件にお応えします。
Details
半導体のフロントエンドテストは主にウェハーの加工プロセスで実施されます。これにより、ウェハー製造プロセスの各工程の指標、閾値、パラメータ要件などは設計の目標値を満たしているかを確認し、良品率に影響を与える欠陥を早期に発見することができます。
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