検索キーワードを入力してください!

Site Map

サイトマップ

低リークマトリックススイッチャー

RM1010-LLC

低リークマトリックススイッチャー


聯訊儀器RM1010-LLC 4スロット半導体マトリックススイッチャーは、S3022Fベンチトップ型ソースメーターまたはS2012C PXleプラグインソースメーターと組み合わせることで、半導体の高速テストに対応できます。RM1010-LLCは多種類のマトリックススイッチャーカードに対応し、費用対効果が高く、工学応用に適しています。また、RM1010-LLCのマスター・コンピューターアプリも新しいテスト機能の開発時間を短縮し、システム統合を簡素化にすることができます。RM1010-LLCは従来のSCPIコマンドに対応しており、テストコードの移行を簡単かつ迅速にし、複数の設備を並列運転させることができ、生産テストシステムに統合することで、システムテストの効率を向上させ、コストを削減することができます。フロントパネルのインターフェースはプログラミングを簡素化にしたことにより、スイッチのステータスを一目で確認できます。

特徴

  • 多路柔軟測定

    支持 2 路低泄漏电流通道输入
    整機は14 路の入力と48 路の出力をサポートしています
  • 低漏れ電流

    最低可実現<100fAの漏れ電流
  • 迅速な測定をサポート

    微弱電流の確立時間は3.5 秒未満です
    ((10V 電圧入力開始から電流< 400fAの時間)
  • 高继电器触点寿命

    スイッチの寿命は10^8 回以上です
  • 10MHz 帯域幅

    C-VとHFチャネルの伝送帯域幅を最適化する
    低下ラインの高周波減衰
  • 2つの方法で制御をサポート

    PC 上で上位機 GUIソフトウェアを実行する
    SCPIの標準コマンドを介してプログラム可能な機器

機能と利点

  • 柔軟性のある設計

    それは2つの低漏れ電流チャネル入力をサポートし、全体で14の入力と48の出力をサポートします。
    それは高精度のSMU(例えばS2036H、S2016Cなど)と組み合わせることができ、漏れ電流は100fA 未満です。

技術仕様



入力チャンネル数
2(Low Leakage I-V Port)
6(General I-V Port)
2(C-V Port)
2(DMM Port)
2(PGU Port)
出力チャンネル数 12/24/36/48
定格電流 (Max.) 1 A
定格電圧 (Max.) 200 V(Channel to Ground)
300 V (Channel to Channel)


チャンネル伝導抵抗
0.6 Ω(Low Leakage I-V Port)
1.0 Ω(General I-V Port)
1.0 Ω(C-V, HF Port)


チャンネル絶縁抵抗[1]
10^13 Ω(Low Leakage I-V Port)
10^12 Ω(General I-V Port)
10^9 Ω(C-V, HF Port)

標準パラメーター

オフセット電流 <100 fA(Low Leakage I-V Port)
<1000 pA(General I-V Port)


オフセット電圧
<80 μV(Low Leakage I-V Port)
<110 μV(General I-V Port)
<110 μV(C-V, HF Port)
チャネルクロストーク容量 <0.3 pF/CH
電気容量測定誤差 <±1%±0.5 pF(C-V Port)

[1] 絶縁抵抗試験環境:23℃ ± 5℃, 5%から60% RH。


その他おすすめ

高速通信テスト関連製品
高速通信テスト関連製品

情報通信の基盤である光通信ネットワークはビッグデータ、クラウドコンピューティング、5G通信など社会の幸せと技術の進化を支える重要な役割を果たしています。聯訊儀器の光通信関連設備は光モジュールや光学機器など基盤製品の生産プロセス、検査プロセスに使用されるサンプリングオシロスコープ、BERメーター、波長測定計、流量計及び汎用光学計測機器などをラインナップし、マーケットにコミットしたトータルソリューションをご提供します。

Details
電気特性計測関連設備
電気特性計測関連設備

聯訊儀器の高精度ソースメーターは優れた操作性を維持しながら、安定した電圧(DC/AC)、電流(DC/AC)の供給と高い測定精度を実現した電子負荷装置で、産業用や研究開発用として幅広く製品を展開してきました。

Details
レーザーダイオードチップテスター
レーザーダイオードチップテスター

LDのバーンインテストは、LDの信頼性を確保するための重要なテスト手法として産業用プロセスに広く活用されています。COC、COSまたはDIEのバーンインテストを通じて、LD生産プロセスによる欠陥を早期に発見し、後工程でのLDの故障や不良を防止できます。LDスクリーニングによる廃却損失の低減、サイクルタイムの向上、工程内のムダを発見することでチップ生産の効率を大幅に向上させます。聯訊儀器はDIEからCOCまで、高温から-40℃の低温まで、トータルソリューションを提供し、多様なお客様の要件にお応えします。

Details
パワー半導体KGDテスター
パワー半導体KGDテスター

半導体のフロントエンドテストは主にウェハーの加工プロセスで実施されます。これにより、ウェハー製造プロセスの各工程の指標、閾値、パラメータ要件などは設計の目標値を満たしているかを確認し、良品率に影響を与える欠陥を早期に発見することができます。

Details
ログイン後 すぐダウンロードできます!

アカウント

パスワード

新規登録 今すぐダウンロード!

氏名

氏名を入力してください *

メールアドレス

メールアドレスを入力してください *

メールアドレスの認証コード

メールアドレスの認証コードを入力してください

電話番号

連絡先の電話番号を入力してください

パスワード

ログインパスワードを入力してください *

パスワードを確認

ログインパスワードをもう一度入力してください *
パスワードを取り戻す

メールアドレス

メールアドレスを入力してください *

メールアドレスの認証コード

メールアドレスの認証コードを入力してください

新しいパスワード

ログインパスワードを入力してください *

パスワードを確認

ログインパスワードをもう一度入力してください *