特徴

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  効率的な測定

  それは最大で4つの100GBd PAM4 信号のアイパターンテストをサポートします
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  多様な測定機能

  通常のNRZとPAM4アイパターンテストパラメータ要件を満たしています
  それは200Gbps/laneの信号測定を満たしています
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  自動テスト

  便利なリモートコマンドコントロール方法
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  高性能で確度を保証

  高性能で、テストの整合性を確保

特徴と利点

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  マルチポート・デザインが統合

  小型 (半機架幅) で、スペースを大幅に節約。
  そのチャンネル数は選択可能です：1/2/4 。
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  発射機色散アイパターン閉合四相テスト

  TDECQの測定は、アイパターン内の2つの垂直ヒストグラムに基づいており、理想的には、2つのウィンドウの位置は0.45 UIと0.55 UIを中心にし、ヒストグラムの間隔を0.1 UIに保ちながら、各ヒストグラムウィンドウの幅は0.04 UIです。各ヒストグラムウィンドウはアイパターンのすべての変調レベルをカバーし、ヒストグラムペアの正確な時間位置を調整することで、最小のTDECQ 値を測定します。
  

  如図所示為 TDECQの測定ウィンドウの示意図

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  OMA 外部光変調テスト

  OMA（Outer Optical Modulation Amplitude）外部光調制振幅は、規定されたテストパターンにおいて、7つの連続した「3」と6つの連続した「0」の中心の2つのUI 上で測定された電平値 P3とP0の差を指し、すなわちOMA=P3-P0です。また、消光比 OER（Outer Extinction Ratio）もこれら2つの電平値に基づいて計算され、OER=P3/P1です。
  如図所示為 Outer OMA/ER 定義中功率水平 P0 和 P3
  
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  実際のテスト106GBd PAM4 信号

  これはDCA1065による106GBd PAM4 信号のSSPRQコード型アイパターンのスクリーンショットです