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聯訊: チップテスターの量産化一周年、累計注文数百台近く
リリース日:2022.07.17 アクセス数: 1722
       蘇州聯訊チップテスターは、その速いテスト速度、高精度な温度制御、繰り返し性と安定性の高いテストデータ、信頼性のあるデータなどの優位性から、中国国内の多くの顧客から認められ、大量に出荷されています。2022年2月までの累計出荷台数は60台を超え、現在受注生産中の注文は約40台で、累計で約100台の注文を獲得しました。



       ICCニュース:中国の光通信産業において、近年に自主開発した半導体レーザーチップの急速な発展を遂げ、数十本の半導体レーザーチップ生産ラインを構築しています。そのテストの需要は、何十億から数百億個に達しています。


       チップの良品率は企業コストに影響を与える要因の一つであり、半導体LDは化合物半導体に属し、その材質は非常に脆いガリウムヒ素、リン化インジウムを主とし、その製造の各プロセスで良品率が高くないことは普遍的な問題です。海外の有名なチップ企業を例にして、その生産の良品率は70%以上に達したが、後工程パッケージングと最終製品の厳格な判定基準などにより、累計30%の損失があります。良品率を高めるためには、専用テスト設備で不良品をスクリーニングする必要があります。中国国内で、この分野ではこれまでローエンドのBarテスターしか生産できません。Barテスト後のチップは二次分割が必要で、プロセス中の様々な要因により、要件の高いハイエンドチップにさらに3-5%の良品率の損失を招きます。半導体LDチップレートがますます速くなるにつれて、後工程のパッケージングはチップのより小さいサイズ、プロセスがより複雑になる傾向があります。これらの二次損傷のチップは良品として後工程に流入された場合、巨大なコストをもたらし、完成品デバイスの生産コストを高めました。また、半導体LDチップは温度に対して感度が高くて、Barはテストステーションでの接触がチップの高温テスト条件での放熱要求を完全に満たすことができないため、繰り返すテストGRRは保証できません。そのため、国内外のメーカーはすでにローエンドのBarテスターからハイエンドのDIE半導体LDチップテスターに移行しています。


       中国境内では、このようなハイエンドのテスト設備は、もともとはほとんど輸入品に独占されていました。中米貿易戦争で、これらの輸入設備が300社の国内企業に販売禁止または制限されており、中国の自主的な光電チップ産業の発展を妨げています。


       中国国内市場の新たな需要に対応するため、蘇州聯訊は、レーザーチップのテスト技術とコアとなるテストメーターの開発において蓄積した豊富な経験に基づいて、数年にわたる専念した研究開発、自主的なイノベーションとイテレーションを経て、複数のコア技術のブレークスルーを成し遂げてきました。2020年に、国内初の半導体レーザーチップの常温高温テスターCT8201のプロトタイプを率先して発表し、海外の独占を打破しました。CT8201は2021年3月に正式に量産され、その直後には工業用の低温テスト要件を満たすチップテスターCT8203が発売されました。


       蘇州聯訊LDチップテスターはレーザーダイオードチップテストのコアとなる重要なハイエンド設備で、光、機械、電気、ソフトウェア、計算を一体にした複雑なシステムで、ICチップID掃引、ローディング、搬送、高温/低温制御、テスト、アンローディング、仕分けの機能ユニットにより、異なるタイプの半導体LD (DFB、EML、EML+SOA)のDIEとCoCチップの光・電気特性の測定、判定と選別を可能にしました。


       蘇州聯訊のチップテスターは初期段階で国内の多くの顧客の厳格で高負荷の検証に合格し、5000個のチップを連続テストしても未実装が発生しないことが確認されました。輸入設備との比較も行い、各種テストでのパフォーマンスや生産良品率が顧客の要求を満たし、特に重要な設備指標のパフォーマンスは既存輸入設備を上回る結果を達成し、顧客から高い評価を頂けました。


       蘇州聯訊チップテスターは、その速いテスト速度、高精度な温度制御、繰り返し性と安定性の高いテストデータ、信頼性のあるデータなどの優位性から、中国国内の多くの顧客から認められ、大量に出荷されています。2022年2月までの累計出荷台数は60台を超え、現在受注生産中の注文は約40台で、累計で約100台の注文を獲得しました。



チップテスターの主な性能仕様は以下の通りです。
顧客には2種類の仕様を提供します:常温高温テスター25℃〜95℃(モデルCT8201)および3温度帯テスター-45℃〜95℃(CT8203)。
両種類の仕様のテスターのどちらにも2つの温度帯があり、チップは同時に2つの異なる温度でテストを行えます。
単一のチップのテスト効率は5.5秒未満であり(1回のLIV+3回のスペクトル+OCR)、異なるテスト条件により結果が異なります。
チップのID識別率は99.5%以上です。
テストの繰り返し性
:Ith<±0.2mA(-40℃)、<±0.2mA(25℃)、< ±0.5mA(85℃)です。
Po<±2%、
Vf<±0.01V、
λc<±0.1nm、

SMSR<± 1.5dB。


チップテスターの主な特徴は以下の通りです。
高い互換性があります: DFB、EML、EML+SOAチップのテストに対応でき、対応するチャンネルソースメーターの構成だけで済みます。
多様なチップサイズに対応できます。 チップのサイズに合わせてカスタマイズ可能なステーションを提供できます。
CWとPulseの方式で LIVとスペクトルテストが可能になります。
自社開発したテストステーション: 材料、加工、表面処理などの全工程を完全に把握し、テーブルの高い熱伝導性と耐摩耗性を確保します。
ソフトウェアのオープンアーキテクチャにより、 拡張が可能で、顧客が独自に生産計画、テスト仕様、生産レポートを作成することにサポートします。
経験豊富な自動化デザインとテストチームにより、顧客のソフトウェア、ハードウェア、およびテストのカスタマイズ要件に迅速に対応し、最終的にテストの安定性を確保します。
同時に、蘇州聯訊は国内ハイエンドテストメーターと設備分野での強みを活かし、チップテスターに自社ブランドの高精度デジタルソースメーターを統合し、高精度、高い掃引速度により、顧客のコストを大幅に削減できます。



聯訊高精度デジタルソースメーターシリーズの性能仕様は以下の通りです。
シングル/ダブル/4チャンネル総合4象限測定機能があります。
広い測定範囲:±3A(DC)、±10A(パルス)、±200V。
最小測定分解能は100fA/100nVに達します。
単一設備とマルチ設備の高速同期。
PXIeプラグインとベンチトップ型の二種類があります。
高速測定で、最大1MのADCサンプリングレートに設定可能。
蘇州聯訊の高精度デジタルソースメーターシリーズ製品は既に光通信、LED、半導体産業の幅広い顧客
から認められ、中国でリードする製品ラインに成長し、今後は聯訊の業績向上に新たな原動力をもたらすであろう。
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