検索キーワードを入力してください!

Site Map

サイトマップ

LDバーンイン

BI6201

CoCバーンインシステム


聯訊儀器 BI6201 バーンインテストシステムは、半導体LDチップのバーンイン寿命検証用に特化された高密度、多機能テストシステムです。

システムはメインフレームと大型シングルレイヤーの構造を採用し、マルチチャンネル駆動電源、温度コントローラ、リアルタイムのデータ収集機能、及び標準化された引き出しと柔軟に移動可能な治具を統合することで、システムコストを著しく削減できます。

カスタムされたテスト治具は、異なるサイズのCoC(Chip on Carrier) 、CoS(Chip on Submount) 及びTO-Canなど各種パッケージングタイプの半導体LD、異なるデバイスタイプに適し、引き出しを交換する(またはテスト治具)だけで対応できます。BI6201の駆動回路は電流または電圧のオーバーシュートを発生させない優れたネットワーク保護機能を備えており、設計から潜在的なEOSリスクを排除し、電流と電圧のしきい値を設定することができるため、出力値がしきい値を超えた場合、システムは異常なチャンネルをシャットダウンにして、テスト対象チップへの保護を強化します。制御回路に設計された保護機能に加えて、チャンネル間の絶縁(Isolation)性能と静電気放電(ESD)対策もシステム設計の考慮に入っています。


特徴

  • SMU駆動電源

    最大4224チャンネルの4象限SMU駆動電源に対応
  • LIV/EA掃引に対応

    LIV、EA掃引の全過程に対応するオンライン電力モニタ
  • 解析機能付き

    Ith、DCERの解析機能を備え、テスト繰り返し性の偏差<1%
  • 最大単一システム

    一つのシステムで最大4224pcsの同時バーンインに対応し、要件とシステム能力に応じて拡張可能

機能と利点


  • 特殊な温度制御構造で、高い熱伝導率を有します

    CoC、CoSの引き出しと治具
  • 自動電流制御、自動パワーコントロールに対応し、安全で信頼できます

    オンライン電力モニタ付きのCoC、CoS引き出しと治具(LIV掃引とパワー測定に対応。)


システム仕様

チップのパッケージングタイプ

CoC/CoSまたはTO-CANの各種タイプ

治具タイプ

標準では48pcs CoCフィッシュボーン型テスト治具に対応し、その他のタイプはカスタマイズして開発することが可能

システム容量

11層、44個の引き出し、標準システムは88個のCoCフィッシュボーン型治具と合計4224のチャンネルを有します

窒素防護

窒素防護機能をオプションとして選択可能

電力供給

AC 380V、50/60Hz  32A

気圧

0.4-0.6Mpa

重量

<1000kg

サイズ

984*1102*2030mm


その他おすすめ

光ネットワークテスト関連製品
光ネットワークテスト関連製品

情報通信の基盤である光通信ネットワークはビッグデータ、クラウドコンピューティング、5G通信など社会の幸せと技術の進化を支える重要な役割を果たしています。蘇州聯訊の光通信関連設備は光モジュールや光学機器など基盤製品の生産プロセス、検査プロセスに使用されるサンプリングオシロスコープ、BERメーター、波長測定計、分光器、流量計及び汎用光学計測機器などをラインナップし、マーケットにコミットしたトータルソリューションをご提供します。

Details
電気特性計測関連設備
電気特性計測関連設備

蘇州聯訊の高精度ソースメーターは優れた操作性を継承しながら、安定な電圧(DC/AC)、電流(DC/AC)の供給と高い測定精度を実現した電子負荷装置で、産業用、研究開発用として幅広く製品を展開してきました。

Details
レーザーダイオードチップテスター
レーザーダイオードチップテスター

LDのバーンインテストは、LDの信頼性を担保するための重要なテスト手法として産業用プロセスに広く活用されています。COC、COSまたはDIEのバーンインテストを通じて、LD生産プロセスによる欠陥を早期に発見し、後工程のLD故障、不良を防げます。LDスクリーニングによる廃却損失の低減、サイクルタイムの向上、工程内のムダを発見することでチップ生産の効率を大幅に向上させます。蘇州聯訊はDIEからCOCまで、高温から-40℃の低温まで、トータルソリューションを提供し、様々なお客様の要件に満足します。

Details
パワー半導体KGDテスター
パワー半導体KGDテスター

半導体のフロントエンドテストは主にウェハーの加工プロセスで実施されます。これにより、ウェハー製造プロセスの各工程の指標、閾値、パラメータ要件などは設計狙い値を満たしているかを確認し、良品率に影響を与える欠陥を早期に発見できます。

Details
ログイン後 すぐダウンロードできます!

アカウント

パスワード

新規登録 今すぐダウンロード!

氏名

氏名を入力してください *

メールアドレス

メールアドレスを入力してください *

メールアドレスの認証コード

メールアドレスの認証コードを入力してください

電話番号

連絡先の電話番号を入力してください *

パスワード

ログインパスワードを入力してください *

パスワードを確認

ログインパスワードをもう一度入力してください *
パスワードを取り戻す

メールアドレス

メールアドレスを入力してください *

メールアドレスの認証コード

メールアドレスの認証コードを入力してください

新しいパスワード

ログインパスワードを入力してください *

パスワードを確認

ログインパスワードをもう一度入力してください *