LDバーンイン
BI6203
CoCバーンインシステム
聯訊儀器 BI6203バーンインテストシステムは、半導体LDチップのバーンイン寿命検証用に特化された高密度、多機能テストシステムです。
システムはメインフレームと大型シングルレイヤーの構造を採用し、マルチチャンネル駆動電源、温度コントローラ、リアルタイムのデータ収集機能、及び標準化された引き出しと柔軟に移動可能な治具を統合することで、システムコストを著しく削減できます。
カスタムされたテスト治具は、異なるサイズのCoC(Chip on Carrier) 、CoS(Chip on Submount) 及びTO-Canなど各種パッケージングタイプの半導体LD、異なるデバイスタイプに適し、引き出しを交換する（またはテスト治具）だけで対応できます。BI6203の駆動回路は電流または電圧のオーバーシュートを発生させない優れたネットワーク保護機能を備えており、設計から潜在的なEOSリスクを排除し、電流と電圧のしきい値を設定することができるため、出力値がしきい値を超えた場合、システムは異常なチャンネルをシャットダウンにして、テスト対象チップへの保護を強化します。制御回路に設計された保護機能に加えて、チャンネル間の絶縁（Isolation）性能と静電気放電（ESD）対策もシステム設計の考慮に入っています。
特徴
ドライブ電源
最大 4224 路 4 象限駆動電源をサポートしています
導熱性が強い
熱沈温度均一性偏差≤±1℃（25～100℃）
温度制御能力が高い
各クランプは独立した加熱、温度制御、監視、過熱保護および放熱ユニットを備えており
魚骨型治具設計
CoCを治具に金線で打つことを支持します
安全性と信頼性
ドライブボードは、EOSなどの潜在的な問題による被測定チップへの損害を効果的に排除できます
オンライン電力監視
オンライン電力監視オプションの設定をサポートし、LIVまたはEAスキャンを行い、Ith 分析機能を備え、テストの再現性は<±1%です
4224 個のCoCが同時に老化しています
生産能力は顧客のニーズに応じて柔軟に配置できます
ソフトウェアの機能が豊富
すべてのテスト結果、状態、および異常記録は自動的にデータベースに保存され、データの保存と結果の追跡をサポートします機能と利点
特殊な温度制御構造で、高い熱伝導率を有します
CoC、CoSの引き出しと治具
|
序号 |
机型名称 |
产品型号 |
参数 |
|
1 |
CoC 老化システム主機架（主機と機架を含む） |
P09000037 |
机架、コンピュータ本体、ソフトウェア（備考：フル装備 11 層） |
|
2 |
CoC 老化システム単層（ドライブボードを含む） |
P02004448 |
- 96チャネル標準ドライバーボード - スイッチング電源 - 温度制御モジュール - バックプレーン - エアシリンダ - CDA、N2 制御システム |
|
3 |
老化抽屉 |
P02004255 |
- 双夹具 96チャンネルPD - 抽屉の温度範囲 40～120℃ - G4 長夹具 - ヒートシンク温度均一性 ±2℃ |
| FB020313 |
- 抽屉の温度範囲 40～120℃ - G4 長夹具 - ヒートシンク温度均一性 ±2℃ |
||
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4 |
老化治具（上下治具を含む） |
C04000223 |
- 48チャネルDML CoCをサポート |
|
5 |
負荷板 |
|
2 Ω電阻板 |
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