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蘇州聯訊は400Gフローテスター、チップテスターを発表し、より完備した400G/800Gテストソリューションを提供します
リリース日:2022.07.17 アクセス数: 1841

       ネットワークの急速な発展に伴い、より多くの周波数帯域への対応を必要とするアプリケーションが増えるようになり、通信事業者のバックボーンネットワークのアップグレードと容量拡張の需要をみたすために、400Gの需要が拡大しています。聯訊のソリューションは、顧客により信頼性が高く、効率的で、費用対効果の高いネットワークシステムを構築します。そのため、聯訊は400G フローテスター、400G/800G ビットエラーレートテスター、25G NRZ DCA & 28G CDRとLDチップテスターを含む一連の完全なテストシステムを発表しました。


400Gテストソリューションの概略図

I. 400Gフローテスター NTA4100
キーパラメーター
1.Rs(514、544)リアルタイムエンコード・デコード
2.ポートタイプ: 1つのOSFP、2つのQSFPDD、4つのSFP56ポートタイプに対応できます。3.イーサネットフレームの長さは60〜16000バイトに設定可能で、ポイントツーポイントのイーサネットリンクで接続されます。

4.解析方式:FECマージン解析、送受信パケット統計、エラーレート解析(ポートまたは各チャンネルごと)、PCSチャンネルの統計・分析、FECビットエラー挿入


機能の特徴
1.広い帯域幅、高いスループットレート、ポートレートが400 Gbpsに達します。 2.イーサネットプロトコルを完全に適合する400G FEC機能を実現します。 3.400GイーサネットMAC/PCS/PMA/PMD層の解析機能を提供し、製品の問題を効果的に診断できます。 4.豊富な光モジュールポートタイプで、チャンネル間のオフセット測定に対応できます。 5.モジュールMDIOの読み書きに対応できます。

II.400G/800GBERテスター PBT8856/PBT8812


キーパラメーター
 1.レートは最大60GBaud (120Gbps @ pam 4)に達すことができます。
2.出力幅 (差動) 通常モードでの正味出力値> 600mv pp

3.立ち上がり・立ち下がり時間 <10ps、ジッター(rms) <650fs、感度 100mVpp



機能の特徴
1.チャンネルは最大8x112 Gbpsに対応できます。 2.各チャンネルはNRZまたはPAM4信号フォーマットに独立して設定できます。 3.迅速な立ち上がりエッジと低固有のジッター。 4.内臓RFスイッチにより、ソフトウェア制御でトリガークロックポートを切り替えることができます。 5.800G FECを含むFEC解析に対応できます。 6.温度サイクルパッケージソフトウェアを含むトータルソリューションを提供します。 III. 25G NRZ DCA DCA6201
キーパラメーター
波長範囲:750nm〜1650nm、RMSノイズ15uW 標準値(最大値:18uw) 2.感度(テンプレートテストの最小平均パワー)-8 dBm。 3.タイムベース間隔の精度1.5ps。 4.電気チャンネル帯域幅30GHz(標準値)、暗騒音<1mV(標準値)。


機能の特徴
:1.光/電気アイパターンテストに対応できます。レートは28GBaud、25GBaudに対応できます。 2.pattern-lock機能オプションとPAM4信号テスト機能オプションがあります。 3.帯域幅は最大30GHzに達します。

IV. 28G/56G CDR CR6201



キーパラメーター
1.回復クロックのランダムジッタ(RMS)は<290fsで、レート範囲は20Gbaud〜28.9Gbaudです。 2.対応する変調方式 NRZ/PAM4、受信機感度はマルチモードで-5dBm、シングルモードで-15dBmです。 3.入力光信号のパワー範囲は<+6dBmで、入力波長範囲は850nm / 1250〜1650nmです。


機能の特徴
1.調整可能なループ帯域幅と選択可能なピーク値を含み、NRZおよびPAM4信号がクロックリカバリーの機能を備えて、高感度と低固有のジッター性能を備えます。
2.優れたEQ均一化機能を備え、閉眼になっているアイパターン信号からクロックを回復できます。
3.クロックリカバリーユニット、光電(O/E)コンバーターおよび光スプリッターが統合されています。
4.シングルモード・マルチモードの光信号および電気信号のクロック・リカバリに対応できます。 V.LDチップテスター


キーパラメーター
1.スペクトルテストの波長範囲は800〜1650nmです。 2.LIVテストには、10×10mmの大面積PDを使用し、フロントライトとバックライトテストに対応できます。 3.単一チップのテスト時間<6.5秒。 4.Chip IDの識別率>99%5.高温テストの繰り返し性:しきい電流Ith<±1%、光パワーPo<±2%、電圧Vf<±0.02V、ピーク波長<±0.2nm、SMSR<±2dB。


機能の特徴

1.テストステーションには特別な基材と加工技術が採用され、高い熱伝導性と寿命(>2年)を確保しています。 2.DFBおよびEMLレーザーのテストに対応できます。 3.CWとPulseの通電方式に対応できます。 4.独特なカップリング技術により、スペクトルテストの確度を確保しています。 5.オープンソースなテストアルゴリズムとインテリジェントなデータ管理システムを備え、ユーザーのカスタマイズに対応できます。
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