蘇州聯訊rBT2250バーストビットエラーレートテスター

10G PONネットワークの配置・導入に伴い、次世代の50G PONネットワークの標準化も完備: 2018年、ITU/FSANは単一波長50G PONに基づいたG.HSP(G.HigherSpeed PON)と名付けた標準の制定を始めました。2019年には、50G PONの全般的な要求条件であるG.9804.1が発表され、単一波長のTDM PONアーキテクチャと上り・下りレートの組み合わせが明確になりました。そして、50G PONは10G PONと既存のODNとともにスムーズに進化を遂げる必要もありました。2021年、ITU-T 50G PONシリーズの標準が正式に発表されました。関連標準は、全般的な要求条件の改訂版であるG.9804.1 AMD1と共通プロトコル層標準G.9804.2、物理層標準G.9804.3を含めました。次世代の50G PONテストのニーズを満たすために、蘇州聯訊は次世代の25G/50G PON光回線終端装置 (OLT) テスト専用の新型バーストビットエラーレートテスター rBT2250を発表しました。

図1 聯訊rBT2250 25G/50Gバーストビットエラーレートテスター

50G PON 適用シーン

50G PONはアクセスネットワーク機能を包括的に強化し、高帯域幅、低遅延保証とチャンネル化能力の全面的な向上を実現し、多様な適用シーンに対応できるようにしました。

図2 50G PON すべての適用シーン

50G PONはシングルファイバー双方向伝送、下りTDM時分割多重化、上りTDMA時分割多元接続を採用し、OLTとONU間のポイントからマルチポイント通信を実現します。PONシステムでは光回線終端装置ONUが光ファイバとカプラーを介して光回線終端装置OLTを共有し、上りデータの伝送は時分割多重化の方式で上りチャンネルを共有し、上りデータを送信する光送信機がバーストパケット信号を送信します。現時点では、コアチップとデバイスの制限を受けているため、現段階の50G PONは主に非対称、即ち下り50G連続/上り25Gバーストの設計になっています。

図3 50G PON アーキテクチャ

50G PON テストチャレンジ

伝送経路が異なるため、各パケットには異なる減衰があり、データパケット内に長い連続した「1」、「0」が存在します。これにより、OLTバースト受信モジュールが受信した信号は特殊な光バースト信号になります。

     図4 異なる幅のONU信号

ONU 上りバースト信号:

データと同期するイネーブル制御信号が必要です。

プリアンブル＋PRBSデータを送信できる時系列のあるデータパケット (フレーム単位) が必要

バーストデータと同期イネーブル制御信号を有するビットエラーレートテスターが必要

図5 バーストビットエラーレートテスターダブルバーストテスト

上りのバースト信号に対して、OLT受信モジュールは異なる電力減衰ONU1とONU2バースト信号から、振幅値が等しい信号を迅速に回復するだけでなく、異なるONUの位相急変を排除し、クロックと位相を揃わなければなりません。それにより、OLTが出力する信号は振幅値が等しく、クロックと位相が揃った電気信号で、ダブルバーストテストが、2つの異なる減衰でのONU伝送テストをシミュレートすることができます。

OLT受信機の性能を検証するには、バーストビットエラーレートテスターがバーストモードに設定される必要があり、連続モードでのビットエラーレートテスターは問題のあるOLTを検出できません。

rBT2250 バーストビットエラーレートテスター

上記のテスト要件に対して、蘇州聯訊rBT2250は2つの独立したバーストパターンジェネレーターとビットエラーレート検出器チャンネルを提供し、連続モードまたはバーストモードでのビットエラー解析に対応し、2チャンネルのバースト時分割パターンシーケンスの生成とビットエラー解析機能を備えています。パターンの時系列が柔軟に調整可能で、デバイスのテスト要件に応じて、該当テストチャンネルに同期したレーザーイネーブル、リセット信号などの低速制御チャンネルを提供することができます。また、rBT2250はクロックリカバリーを搭載しており、自動距離測定が可能で、長距離光ファイバーテストにも対応しています。これにより、テスト設定と接続を大幅に簡素化され、設置スペースとテストコストを大幅に削減されます。

図6 rBT2250 ソフトウェアのメインテストインタフェース

製品の特徴

バーストまたは連続モード信号の出力とBERテストに対応。

バーストモードが対応するレート: 9.953Gbps/10.3125Gbps/12.4416Gbps/24.8832Gbps。

マルチチャンネル:

2つの独立した高速バーストデータチャンネルを統合し、

2チャンネルのバースト時系列が設定可能なパターンジェネレーターチャンネルと1チャンネルのバーストビットエラーレートテストに対応します。

2チャンネル同期のONUレーザーイネーブル制御チャンネルに対応し、LVTTL 3.3Vの制御レベルが必要で、外部のレベル変換は必要ありません。

1チャンネルのダブルリセット制御チャンネルに対応：リセット位置が調整可能で、リセット幅も調整可能です。

1チャンネルRSSI Triggerに対応：RSSI Triggerの位置とパルス幅も調整可能です。

連続パターンジェネレーターチャンネルを追加できます。ダブル25G NRZチャンネル、50G PAM4チャンネル、または50G NRZチャンネルを選択できます。

LOS測定に対応：各テストチャンネルごとにLOSモニタリングチャンネルを備えており、SD信号をモニタリングしてLOSを判断することができます。

CDR(クロックリカバリー) に対応: OLTデバイスと同様に、受信するたびにクロックリカバリーを行います。クロックリカバリーを搭載することにより、rBT2250は実際の長距離光ファイバー環境での運用が可能になります。一般的に使用されている他のソリューションでは、そのシステムにクロックリカバリー機能が搭載されていないため、長距離光ファイバーによる遅延やジッタにより、上記のようなことはほぼ実現できません。

図7 聯訊25G OLT全体のテスト方法

OLT全体のテスト方法では、rBT2250バーストビットエラーレートテスターは同時に2チャンネルのバースト信号に対応し、2つのONUダブルパケットのバーストテストをシミュレートできます。50G光サンプリングオシロスコープはOLT TX側の連続モードでの光アイパターンテストを実施できます。

聯訊について

蘇州聯訊は蘇州高新区湘江路1508号に位置し、国内のハイエンドテスト機器と設備のサプライヤーとして製品を提供し続けています。蘇州聯訊は主に高速通信テスト、レーザーダイオードチップテストと半導体テストの三つの分野に注力し、製品には高速ビットエラーレートテスター、ネットワーク・テスター、広帯域サンプリングオシロスコープ、高精度波長測定計、分光器、汎用デジタルソースメーターなどのハイエンド計測機器、及び高速トランシーバーテストシステムATE、LDチップバーンインシステム、LDチップテスター、SiP Waferテスター、パワー半導体テスター、ウェハーバーンインシステムとWaferアクセブタンステストなどのハイエンドテスト設備が含まれています。

蘇州聯訊は、お客様を中心にし、社員を根本にし、革新を駆動力にし、最善を尽くして細部にこだわるという企業文化に一貫し、ハイエンド試験機器及び設備の業界空白を埋め続ける使命を心に刻み、世界的知名度の高いハイエンド試験機器及び設備のサプライヤーを目指すべく努力してまいります。

詳細については、www.semight.comをご覧ください 

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販売センター担当者：楊 建 186-6029-8596

光通信テストメーター：鄧 寒 186-2613-2729

レーザーダイオードチップバーンインテスト：張 紀 189-7147-3511

高精度デジタルソースメーター：張盼盼 185-2212-4627

半導体テスト設備：張学増 139-1404-6017

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