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蘇州聯訊KGD Handler
汎用チップテストプラットフォーム

● Ldチップ
● パワー半導体
● メモリーチップ
● チップのパッケージング

Products

製品一覧

蘇州聯訊は光通信ネットワークテスターをはじめ、レーザーダイオードチップテスター、電気特性試験向けテスター、パワー半導体KGDテスターの4つの分野にて設備および機器の研究開発を進めており、お客様のニーズに応じて、標準仕様からカスタム仕様まで、ハードウェアやソフトウェアを含むハイエンドなテスト設備の最適なトータルソリューション」として、「ハイエンドなテスト設備を提供します。

光ネットワークテスト関連製品

情報通信の基盤である光通信ネットワークはビッグデータ、クラウドコンピューティング、5G通信など社会の幸せと技術の進化を支える重要な役割を果たしています。蘇州聯訊の光通信関連設備は光モジュールや光学機器など基盤製品の生産プロセス、検査プロセスに使用されるサンプリングオシロスコープ、BERメーター、波長測定計、分光器、流量計及び汎用光学計測機器などをラインナップし、マーケットにコミットしたトータルソリューションをご提供します。

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電気特性計測関連設備

蘇州聯訊の高精度ソースメーターは優れた操作性を維持しながら、安定した電圧（DC/AC）、電流（DC/AC）の供給と高い測定精度を実現した電子負荷装置で、産業用や研究開発用として幅広く製品を展開してきました。

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レーザーダイオードチップテスター

LDのバーンインテストは、LDの信頼性を確保するための重要なテスト手法として産業用プロセスに広く活用されています。COC、COSまたはDIEのバーンインテストを通じて、LD生産プロセスによる欠陥を早期に発見し、後工程でのLDの故障や不良を防止できます。LDスクリーニングによる廃却損失の低減、サイクルタイムの向上、工程内のムダを発見することでチップ生産の効率を大幅に向上させます。蘇州聯訊はDIEからCOCまで、高温から-40℃の低温まで、トータルソリューションを提供し、多様なお客様の要件にお応えします。

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パワー半導体KGDテスター

半導体のフロントエンドテストは主にウェハーの加工プロセスで実施されます。これにより、ウェハー製造プロセスの各工程の指標、閾値、パラメータ要件などは設計の目標値を満たしているかを確認し、良品率に影響を与える欠陥を早期に発見することができます。

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Solution

ソリューションズ

蘇州聯訊は光通信ネットワークテスターをはじめ、レーザーダイオードチップテスター、電気特性試験向けテスター、パワー半導体KGDテスターの4つの分野にて設備と機器の研究開発を進めており、お客様のニーズに応じて、標準仕様からカスタム仕様までハイエンドテスト設備におけるハードウェア、ソフトウェアを含む最適なトータルソリューションを提供します。

データベースクライアント

高速な信号波形の品質を評価するためのサンプリングオシロスコープは、データ信号に同期するクロック信号トリガが必要であり、28Gbaudレート以下の光モジュールのアイパターン測定の場合、サンプリングオシロスコーの同期トリガーとして、標準クロックリカバリーユニット (CRU) を使用して信号からクロックを抽出することが業界標準として推奨されています。

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電気通信ネットワーク

PONシステムでは、OLTはPOS (パッシブ光スプリッター) を介して複数のONU (光回線終端装置) に接続されています。

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新エネルギー

車載用SiCチップにおけるWafer信頼性評価の必要性: バスタブ曲線理論によると、どの電子部品もライフサイクルの初期に故障率が高く、時間の経過とともに故障率は大幅に低下し、安定期に入ります。

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半導体

WATテストの概要 WATはWaferがFab工場から出荷される前の最後のテストプロセスです。WATテストは通常、Waferダイシングレーンに特別に設計されたテスト構造を用いて実施するテストです (図1)。

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MOS＆MOSFET

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メタバース

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About us

会社概要

蘇州聯訊は2017年に設立され、光通信と半導体テスト技術研究に長年携わってきた専門家により創設された会社として、光通信ネットワークテスターをはじめ、レーザーチップテスター、電気特性試験向けテスター、パワー半導体KGDテスターの4つの分野にて設備と機器の研究開発を進めており、高速BERメーター、ネットワークテスター、広帯域サンプリングオシロスコープ、高精度波長計、分光器と汎用デジタルソースメーターなどのハイエンド試験機器、及び高速トランシーバーテストシステムATE、LDチップバーンインシステム、LDチップテストシステム、SiP Waferテストシステム、パワー半導体KGDテスト選別システム、Waferバーンインシステム、WaferアクセプタンステストシステムとWaferレベル信頼性評価システムなどのハイエンドテスト設備など、ハイエンドテスト設備におけるハードウェア、ソフトウェアを含む最適なトータルソリューションを提供します。